[实用新型]直立式圆盘检测机构有效
申请号: | 201821472630.9 | 申请日: | 2018-09-10 |
公开(公告)号: | CN209007221U | 公开(公告)日: | 2019-06-21 |
发明(设计)人: | 姚志金;古明篷 | 申请(专利权)人: | 欣竑科技有限公司 |
主分类号: | B24B3/24 | 分类号: | B24B3/24;B24B37/00;B24B37/34;B24B49/00;B24B27/00 |
代理公司: | 北京汇智英财专利代理事务所(普通合伙) 11301 | 代理人: | 郑玉洁 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
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本实用新型的直立式圆盘检测机构,其包括:一本体,该本体设有一入料位置、一影像检测位置、一抗折检测位置、一研磨位置、一出料位置及一不良位置;一影像检测器,设于该影像检测位置;一抗折检测器,设于该抗折检测位置;一研磨器,设于该研磨位置;一出料顶针,设于该出料位置;一不良顶针,设于该不良位置;以及一直立式圆盘,该直立式圆盘设于该本体上,且设有至少一收容槽,该收容槽可收容微钻头,通过该直立式圆盘的转动,该收容槽会依序通过该入料位置、该影像检测位置、该抗折检测位置、该研磨位置、该出料位置、该不良位置,最后再回到该入料位置。
技术领域
本实用新型有关一种直立式圆盘检测机构,特别是针对一种微钻头的检测与研磨装置。
背景技术
现有中国台湾专利号M391431的“焊接机的检测及研磨装置”其包括:一检测装置、一背光座、一旋转夹臂、一抗折测试装置与一研磨装置;是由检测装置进行钻头的检测作业,依据钻头遮住背光座的面积大小判别钻头的长度,并且由旋转夹臂夹取钻头并移动至抗折测试装置施以适当的推力于钻头,以测试钻头的抗折度,再由旋转夹臂将钻头夹取并移动至研磨装置进行钻头的研磨作业;然而,该旋转夹臂为水平旋转,需要较大的动作空间,导致建筑成本也比较高。
实用新型内容
有鉴于上述的缺点,本实用新型直立式圆盘检测机构,其包括:一本体,该本体设有一入料位置、一影像检测位置、一抗折检测位置、一研磨位置、一出料位置及一不良位置;一入料顶针,设于该入料位置;一影像检测器,设于该影像检测位置;一抗折检测器,设于该抗折检测位置;一研磨器,设于该研磨位置;一出料顶针,设于该出料位置;一不良顶针,设于该不良位置;以及一直立式圆盘,该直立式圆盘设于该本体上,该直立式圆盘上设有至少一收容槽,该收容槽可收容微钻头,通过该直立式圆盘的转动,该收容槽会依序通过该入料位置、该影像检测位置、该抗折检测位置、该研磨位置、该出料位置、该不良位置,最后再回到该入料位置。
承上所述,其中,当微钻头移至该入料位置后,该直立式圆盘会转动将微钻头由该入料位置转至该影响检测位置。
承上所述,其中,该影像检测器为电荷耦合装置(Charge Coupled Device,CCD)。
承上所述,其中,该出料位置设有一出料区,当微钻头通过影像检测、抗折检测且完成研磨后,抵达该出料位置时,该出料顶针会将微钻头推入该出料区。
承上所述,该不良位置设有一不良区,当该影像检测器感测出不良微钻头,则不良微钻头转至该出料位置时,该出料顶针不动作,不良微钻头会转至该不良位置,通过该不良顶针动作,不良微钻头会落入该不良区。
承上所述,该抗折检测器检测出不良微钻头,则不良微钻头转至该出料位置时,该出料顶针不动作,不良微钻头会转至该不良位置,通过该不良顶针动作,不良微钻头会落入该不良区。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。
图1为本实用新型的立体图。
图2为本实用新型的前侧视图。
图3为本实用新型的影像检测示意图。
图4为本实用新型的抗折检测示意图。
图5为本实用新型的研磨示意图。
附图标记说明
1 本体
11 入料位置
12 影像检测位置
120 影像检测器
121 转轮
13 抗折检测位置
130 抗折检测器
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