[实用新型]一种大角度入射的多输出激光衰减装置有效

专利信息
申请号: 201821495735.6 申请日: 2018-09-13
公开(公告)号: CN209117974U 公开(公告)日: 2019-07-16
发明(设计)人: 赵秀冕 申请(专利权)人: 北京国科欣翼科技有限公司
主分类号: G02B27/00 分类号: G02B27/00
代理公司: 北京纽乐康知识产权代理事务所(普通合伙) 11210 代理人: 李景华
地址: 100000 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 出射孔 透射窗 后面板 前面板 激光衰减装置 本实用新型 激光 衰减单元 圆柱空腔 多输出 滑槽 入射 激光入射方向 表面反射率 激光入射孔 漫反射处理 高能激光 滑动连接 散射材料 依次设置 入射角 衰减器 元器件 反射 填充 输出 出口
【说明书】:

实用新型公开了一种大角度入射的多输出激光衰减装置,包括沿激光入射方向依次设置的前面板、衰减单元和后面板,所述的前面板上设有激光入射孔,所述的后面板上设有若干个激光出射孔,所述的衰减单元包括前透射窗和后透射窗,所述的前透射窗和后透射窗之间设有圆柱空腔,所述的圆柱空腔内填充有散射材料,所述每一个激光出射孔处的后面板上均连接有出射孔通道,所述的出射孔通道上设有滑槽,所述的滑槽内滑动连接有激光出射孔盖。本实用新型改善了衰减器的入射角度特性,且可以实现多个出口输出,前面板采用漫反射处理,提高了表面反射率,同时防止了反射的高能激光损坏光路上的其它元器件。

技术领域

本实用新型涉及激光衰减技术领域,具体来说,涉及一种大角度入射的多输出激光衰减装置。

背景技术

在高能激光参数测量中,经常采用光电探测器阵列取样方法来获取激光光斑功率密度时空分布信息。由于测试位置处的激光功率密度一般都较高,直接利用光电探测器阵列进行测量存在较大难度,因此在实际测试中需要对被测的激光功率密度进行合理的衰减以满足光电探测器的量程范围。

为保证探测器阵列具有较大的视场角,目前常用的方法为在探测器金属前面板上进行倒角,但是这种处理方式存在的问题是在需要承受强激光辐照的前面板上掏空一个大角度的锥孔,尤其对于面阵结构探测而言,意味着前面板的质量减小,吸热的能力降低,故削弱了前面板的抗激光损伤能力,使得探测器阵列用于高功率激光能量测量时易被损伤,且倒角角度越大,抗激光损伤能力越差,故难以用于斜入射时激光光强衰减及参数测量。此外,倒角的存在增大了探测器阵列之间的距离,降低了探测器阵列空间分辨力,限制了这种方法的应用范围。

实用新型内容

针对相关技术中的上述技术问题,本实用新型提出一种大角度入射的多输出激光衰减装置,能够克服现有技术的上述不足。

为实现上述技术目的,本实用新型的技术方案是这样实现的:

一种大角度入射的多输出激光衰减装置,包括沿激光入射方向依次设置的前面板、衰减单元和后面板,所述的前面板上设有激光入射孔,所述的后面板上设有若干个激光出射孔,所述的衰减单元包括前透射窗和后透射窗,所述的前透射窗和后透射窗之间设有圆柱空腔,所述的圆柱空腔内填充有散射材料,所述每一个激光出射孔处的后面板上均连接有出射孔通道,所述的出射孔通道上设有滑槽,所述的滑槽内滑动连接有激光出射孔盖。

进一步的,所述的激光出射孔盖的一端连接有挡块。

进一步的,所述前面板的迎光面为漫反射面。

本实用新型的有益效果:本实用新型改善了衰减器的入射角度特性,且可以实现多个出口输出,前面板采用漫反射处理,提高了表面反射率,同时防止了反射的高能激光损坏光路上的其它元器件。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是根据本实用新型实施例所述的一种大角度入射的多输出激光衰减装置的结构示意图;

图2是出射孔通道的剖面图;

图中:1、前面板;2、圆柱空腔;3、后透射窗;4、激光出射孔;5、后面板;6、前透射窗;7、激光入射孔;8、出射孔通道;9、激光出射孔盖。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。

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