[实用新型]一种X射线的检测系统

说明书

本实用新型实施例公开了一种X射线的检测系统，检测系统包括：光源发生器、第一探测器、第二探测器、准直器和处理器；第一探测器和第二探测器在待探测物体的传动方向上交替排布；光源发生器，用于发射多列光束信号，每列光束信号包括多条光束信号；第一探测器，用于接收透过待探测物体后的多列透射光束信号；准直器，用于对透过待探测物体后的多列散射光束信号进行特异性选择；第二探测器，用于接收经准直设备选择后的散射光束信号；处理器，用于依据多列透射光束信号和选择后的散射光束信号，确定待探测物体的检测结果。

技术领域

本实用新型涉及X射线检测领域，尤其涉及一种X射线的检测系统。

背景技术

准确检出违禁品是公共安检的重点和难点，传统透射成像技术不能提供分子结构信息，存在局限性。X射线衍射(X-ray diffraction，XRD)技术可提供物质分子层面的结构信息，具有很强的特异性，因此通过检测物质的衍射光谱可以识别物质。目前的XRD检测系统一般包括：光源、探测器与准直系统，利用该XRD技术检测违禁品，可弥补其他传统技术的不足，有助于提高识别准确率。

但是，目前的检测系统存在对散射光束信号的收集效率低等问题。

发明内容

本实用新型实施例提供一种X射线的检测系统，可以提高对散射光束信号的收集效率，进而提高检测系统的检测效率。

根据本实用新型实施例的第一方面，提供一种X射线的检测系统，该检测系统包括：

光源发生器、第一探测器、第二探测器、准直设备和处理器；

所述第一探测器和所述第二探测器在待检测物体的传动方向上交替排布；

所述光源发生器，用于发射多列光束信号，每列光束信号包括多条光束信号；

所述第一探测器，用于接收透过所述待检测物体后的多列透射光束信号；

所述准直设备，用于对透过所述待检测物体后的多列散射光束信号进行特异性选择；

所述第二探测器，用于接收经所述准直设备选择后的散射光束信号；

所述处理器，用于依据所述多列透射光束信号和选择后的所述散射光束信号，确定所述待检测物体的检测结果。

根据本实用新型实施例中的检测系统，由于使用了多列光束信号，以及第一探测器和第二探测器在待检测物体的传动方向上交替排布，使得在单位时间内收集到的散射光束信号中的光子数大大提高，即提高了对散射光束信号的收集效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对本实用新型实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是示出本实用新型实施例的X射线的检测系统的架构示意图；

图2是示出本实用新型实施例光源发生器的光束信号入射点平面的示意图；

图3是示出本实用新型实施例中第一探测器和第二探测器的排布示意图；

图4是示出本实用新型实施例中散射光束信号的示意图；

图5是示出本实用新型实施例中待检测物体的位置示意图；

图6是示出本实用新型实施例提供的检测方法的流程示意图。

具体实施方式