[实用新型]一种用于小角中子散射谱仪的探测器定位装置有效
申请号: | 201821528287.5 | 申请日: | 2018-09-19 |
公开(公告)号: | CN208721593U | 公开(公告)日: | 2019-04-09 |
发明(设计)人: | 刘栋;陈良;王亭亭;孙良卫;黄粒朝;孙光爱;龚建 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 |
主分类号: | G01N23/202 | 分类号: | G01N23/202 |
代理公司: | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人: | 翟长明;韩志英 |
地址: | 621999 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 探测器 散射谱 小角 准确位置信息 拉线传感器 定位装置 真空腔 本实用新型 计算机控制 探测器运动 步进电机 定位精确 航空插头 活动滑块 实时监控 实验过程 信号传输 装置移动 传送带 滑动 标定 拆卸 标尺 转动 简易 自动化 驱动 计算机 移动 | ||
本实用新型公开了一种用于小角中子散射谱仪的探测器定位装置。该装置移动位于小角中子散射谱仪真空腔内的探测器,带动其上连接的拉线传感器运动,拉线传感器通过航空插头将信号传输到计算机;计算机控制步进电机转动以带动传送带滑动从而驱动活动滑块上的LED指示灯随之移动相应距离;LED指示灯通过指示准确标定过的标尺提供探测器运动前、后、过程中的实时、准确位置信息。该装置能够实时监控小角中子散射谱仪实验过程中探测器所在的位置,具有安装简易、容易拆卸、实时、定位精确、自动化、节省人力的优点,适用于获取小角中子散射谱仪真空腔内的探测器在运动前、后、过程中的实时、准确位置信息及样品到探测器之间的距离。
技术领域
本实用新型属于中子散射原位自动化测量技术领域,具体涉及一种用于小角中子散射谱仪的探测器定位装置。
背景技术
小角中子散射技术在软物质、合金等材料领域研究中,有广泛应用和独特优势。利用中子对于轻元素的辨识能力,小角中子散射技术结合同位素替换方法在软物质结构解析、动力学,分子链机理等研究中起到过关键作用。然而准确监控并获取“样品到探测器距离”是小角中子散射实验过程的重要环节,关系到实验的精度和效率。由于小角中子散射谱仪的探测器在真空腔中,无法直接观测其具体位置,伺服电机控制探测器前后移动中出现的丢步、失去连接等情况会引来“样品到探测器距离”失准的情况。为了获取准确的散射矢量,急需研制一套能够实现实时显示“样品到探测器距离”的装置。利用高精度位置传感器结合定位标尺,可以实现实时准确显示探测器定位,并标定出样品到探测器距离”,为小角中子散射实验提供新的便利。
目前,国内中子散(衍)射技术处于起步阶段,尚未发现有公司针对中子散(衍)射谱仪设计研发此类具备实时准确显示探测器定位的配套装置。而X射线由于探测器在真空腔体外,不需要类似装置,也确未发现有基于同步辐射光源和商用光源的类似探索。国际上部分小角中子散射平台上通常也是利用伺服电机位置信号作为判断依据,但是都存在上述的问题,在伺服电机出错需要断电的情况下,位置归零会浪费大量宝贵的实验时间。仅用伺服电机位置信号也无法实现直观实时探测器定位和“样品到探测器距离”获取。
目前,亟需发展一种用于小角中子散射谱仪的探测器定位装置,该探测器定位装置能够在小角中子散射实验前,实验过程中,实验后对探测器做准确定位和对“样品到探测器距离”参数做实时获取,为小角中子散射实验提供极大便利。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种用于小角中子散射谱仪的探测器定位装置。
本实用新型的用于小角中子散射谱仪的探测器定位装置,其特点是:所述的探测器定位装置包括拉线传感器、航空插头、计算机、步进电机、传送带、活动滑块、LED指示灯、导轨、轴承和标尺;所述的拉线传感器连接到位于真空腔中的探测器上,并通过航空插头与外部的计算机通讯连接,同时,计算机与步进电机通讯连接,计算机接收拉线传感器信号并向步进电机发送指令,控制步进电机运动;
所述的步进电机和轴承之间安装有环形的传送带,传送带的环形中心位置处固定有驱动导轨,滑块的一端固定在传送带上,滑块的另一端固定在驱动导轨上,步进电机驱动传送带带动滑块沿驱动导轨直线运动;
所述的标尺标有刻度,与驱动导轨平行放置;
所述的活动滑块上装有LED指示灯,LED指示灯为箭头型,箭头指示标尺的位置,箭头反应探测器的实时位置。
所述的拉线传感器、航空插头、传送带、活动滑块、导轨、轴承、标尺的材料为抗中子活化的金属材料。
所述的传送带的材料为橡胶。
所述的小角中子散射谱仪为反应堆中子源或散裂中子源。
本实用新型的用于小角中子散射谱仪的探测器定位装置具有以下特点:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院核物理与化学研究所,未经中国工程物理研究院核物理与化学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201821528287.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。