[实用新型]短路故障试验系统有效

专利信息
申请号: 201821581411.4 申请日: 2018-09-27
公开(公告)号: CN208902822U 公开(公告)日: 2019-05-24
发明(设计)人: 赵润生;王洁;蒋丹;曹红娟;孙逢良;顾勤芬;曾月 申请(专利权)人: 中认英泰检测技术有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 王锋;赵世发
地址: 215000 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 控制装置 试验装置 短路故障试验 防爆 短路测试电路 本实用新型 测试电源 测试支路 短路开关 短路试验 测试箱 安全距离 电路电极 人身安全 熔断机构 依次串联 开合 元器件 测试 爆炸 外部 试验
【权利要求书】:

1.一种短路故障试验系统,包括防爆测试箱、试验装置以及控制装置,至少所述试验装置设置于防爆测试箱内,所述控制装置设置于防爆测试箱外部,其特征在于:所述控制装置与试验装置连接,所述试验装置包括测试电源以及连接于测试电源两端的短路测试电路,所述短路测试电路包括一个以上的测试支路,所述测试支路包括依次串联设置的短路开关和熔断机构;所述控制装置包括第一控制机构和第二控制机构,所述第一控制机构和第二控制机构相互连接,且所述第二控制机构还与短路开关连接,并能够控制开关的开合。

2.根据权利要求1所述短路故障试验系统,其特征在于:所述第一控制机构包括微处理器,微处理器的输出端与指示灯、第一控制开关、第二控制开关连接形成第一控制电路;其中所述微处理器的输入端与测试电源供电连接;所述第二控制机构包括控制开关线圈和短路开关线圈,所述控制开关线圈与微处理器的输出端连接形成第二控制电路,所述短路开关线圈与微处理器的输出端连接形成第三控制电路,所述控制开关线圈还与第二控制开关连接,所述短路开关线圈还与短路开关连接。

3.根据权利要求2所述短路故障试验系统,其特征在于:所述短路测试电路包括两个以上测试支路,两个以上测试支路并联设置。

4.根据权利要求2所述短路故障试验系统,其特征在于:任意两个测试支路的熔断机构的电阻大小不同。

5.根据权利要求4所述短路故障试验系统,其特征在于:任意两个测试支路的熔断机构的直径不同。

6.根据权利要求2所述短路故障试验系统,其特征在于:所述控制开关线圈和短路开关线圈并联设置。

7.根据权利要求2所述短路故障试验系统,其特征在于:所述第二控制开关为常闭开关,且所述第二控制开关与短路开关不同时闭合。

8.根据权利要求2所述短路故障试验系统,其特征在于:所述短路开关为电磁开关。

9.根据权利要求2所述短路故障试验系统,其特征在于:所述第一控制开关为延时开关,所述延时开关包括整流模块、延时模块、光感模块、控制模块,延时模块分别与电源整流模块、光感模块、控制模块连接。

10.根据权利要求1所述短路故障试验系统,其特征在于:在所述测试电源两端还连接有电压监测机构。

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