[实用新型]一种半导体测试治具

权利要求书

1.一种半导体测试治具，包括后侧圆板（5），其特征在于：所述后侧圆板（5）前侧面设有内侧圆环（14），内侧圆环（14）外侧面的左侧和左侧弧形板（4）的弧内侧滑动连接，内侧圆环（14）外侧面的右侧和右侧弧形板（13）的弧内侧滑动连接，左侧弧形板（4）的后侧面和右侧弧形板（13）的后侧面均与后侧圆板（5）的前侧面固定连接，内侧圆环（14）的轴线、左侧弧形板（4）的轴线、右侧弧形板（13）的轴线、后侧圆板（5）的轴线重合；

内侧圆环（14）的外侧面绕其轴线等角度开设有安装槽（15），安装槽（15）的后端开放设置，安装槽（15）的前端开设有两个卡接槽，卡接槽的前端开放设置，内侧圆环（14）的内侧面固定有空心齿轮（7），空心齿轮（7）内侧和齿轮（11）啮合，齿轮（11）和步进电机（12）的输出轴同轴固定，步进电机（12）通过固定架固定在后侧圆板（5）的前侧面；

右侧弧形板（13）弧外侧的右端和电动伸缩杆（17）的固定端固定连接，电动伸缩杆（17）的伸缩端和横板（18）左侧面的后端固定连接，横板（18）左侧面的前端和竖板（25）右侧面的中部固定连接，竖板（25）左侧面的上下两端均安装有按压装置（9），后侧圆板（5）的前侧面固定有固定板（21），固定板（21）位于空心齿轮（7）的内侧，固定板（21）右侧面前端对应两个按压装置（9）位置分别固定有金属台（20），两个金属台（20）的侧面均固定有导线柱（19），两个导线柱（19）分别与外部检测设备的检测端电连接；

右侧弧形板（13）弧外侧通过固定架固定有单片机（16），单片机（16）的输入端和外部电源的输出端电连接，单片机（16）的输出端分别与电动伸缩杆（17）的输入端和步进电机（12）的输入端电连接。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于：所述安装槽（15）的内部开设有圆形穿孔，圆形穿孔内安装有顶起装置（6）。

3.根据权利要求2所述的一种半导体测试治具，其特征在于：所述顶起装置（6）包括卡接板（61），卡接板（61）和安装槽（15）内部的卡接圆槽卡接，卡接板（61）的侧面和支撑杆（62）的一端固定连接，支撑杆（62）的另一端穿过安装槽（15）内部圆形穿孔并与限位板（63）的侧面固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于：所述后侧圆板（5）前侧面的下部通过固定架固定有凸轮（8），凸轮（8）位于最下端顶起装置（6）的上方。

5.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于：所述按压装置（9）包括滑动杆（93），滑动杆（93）和竖板（25）上的滑孔滑动连接，滑动杆（93）的右端固定有挡板（91），滑动杆（93）的左端固定有压板（92），压板（92）右侧面和竖板（25）左侧面之间的滑动杆（93）上套接有弹簧（94）。

6.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于：所述左侧弧形板（4）的下端、右侧弧形板（13）的下端均固定有下挡板（10），两个下挡板（10）之间的距离大于安装槽（15）之间的宽度。

7.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于：所述金属台（20）的右侧面粘接有导电橡胶（22），安装槽（15）位于导电橡胶（22）和按压装置（9）之间。

8.根据权利要求7所述的一种半导体测试治具，其特征在于：所述左侧弧形板（4）的上端、右侧弧形板（13）的上端均固定有上挡板（2），两个上挡板（2）的后侧面分别与后侧挡板（1）前侧面的左右两侧固定连接。

9.根据权利要求8所述的一种半导体测试治具，其特征在于：所述左侧的上挡板（2）右侧面的前端固定有前侧挡板（3），前侧挡板（3）的高度和上挡板（2）的高度相等。

10.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于：所述左侧弧形板（4）弧外侧的下部和右侧弧形板（13）弧外侧的下部分别与两个斜支杆（23）的上端固定连接，两个斜支杆（23）的下端分别与两个底部支撑杆（24）的中部固定连接。