[实用新型]半导体温控装置的测试设备

说明书

本实用新型实施例提供了一种半导体温控装置的测试设备，包括：拨码开关，以及一侧与半导体温控装置上的开关量输入接口匹配的输入插头；所述输入插头的另一侧的每一子插头分别与所述拨码开关的一位的一端连接，所述拨码开关的一位的另一端与直流电源连接。本实用新型实施例中提供的半导体温控装置的测试设备，通过设置拨码开关以及输入插头，可以实现开关量输入接口中每个开关量输入子接口分别独立测试，也可以实现多个开关量输入子接口同时测试，效率高且更直观，操作简单，易于实现。

技术领域

本实用新型实施例涉及半导体技术领域，更具体地，涉及半导体温控装置的测试设备。

背景技术

半导体温控装置通常需要跟主工业设备进行连接才能实现通讯，进行数据的采集及发送。在使用过程中，需要主工业设备发送各种开关量，半导体温控装置接收开关量并执行相应动作，同时半导体温控装置向主工业设备发送执行相应动作后的运行状态量及运行数据值，在半导体温控装置未跟主工业设备连接时则需要对半导体温控装置自身是否能够正常运行进行测试。

目前半导体温控装置在进行开关量接口通讯测试过程中，对开关量输入接口的测试是利用控制开关产生开关信号，并手动分别向开关量输入接口中的各个开关量输入子接口输入开关信号，即手动将传输有开关信号的导线分别接入至开关量输入接口中的各个开关量输入子接口中。其中开关信号高电压代表有开关信号，0电压代表无开关信号，分别进行测试，查看半导体温控装置是否能执行相应的动作。测试过程极其不便，效率低下，且容易出错。

现急需提供一种半导体温控装置的测试设备，以解决现有技术中在对开关量接口进行测试时极其不便，效率低下，且容易出错的问题。

实用新型内容

为克服上述问题或者至少部分地解决上述问题，本实用新型实施例提供了一种半导体温控装置的测试设备。

本实用新型实施例提供了一种半导体温控装置的测试设备，包括：拨码开关，以及一侧与半导体温控装置上的开关量输入接口匹配的输入插头；

所述输入插头的另一侧的每一子插头分别与所述拨码开关的一位的一端连接，所述拨码开关的一位的另一端与直流电源连接。

优选地，所述输入插头的一侧包括第一预设数量个子插头，所述输入插头的另一侧包括所述第一预设数量个子插头，所述输入插头的一侧的子插头与所述输入插头的另一侧的子插头一一对应。

优选地，所述拨码开关的数量为一个或多个。

优选地，还包括：一侧与所述半导体温控装置上的开关量输出接口匹配的输出插头、与所述输出插头中的子插头数量相同的电阻以及与所述输出插头中的子插头数量相同的发光二极管；

所述输出插头的另一侧的子插头、所述电阻以及所述发光二极管一一对应连接。

优选地，所述输出插头的一侧包括第二预设数量个子插头，所述输出插头的另一侧包括第二预设数量个子插头，所述输出插头的一侧的子插头与所述输出插头的另一侧的子插头一一对应。

优选地，所述输出插头具体为型号为DB15的插头。

优选地，所述直流电源具体为24V直流电源。

优选地，所述输入插头具体为型号为DB15的插头。

本实用新型实施例提供的一种半导体温控装置的测试设备，通过设置拨码开关以及输入插头，可以实现开关量输入接口中每个开关量输入子接口分别独立测试，也可以实现多个开关量输入子接口同时测试，效率高且更直观，操作简单，易于实现。

附图说明