[实用新型]一种便携式地铁车轮踏面的参数检测装置有效

专利信息
申请号: 201821662505.4 申请日: 2018-10-12
公开(公告)号: CN209051440U 公开(公告)日: 2019-07-02
发明(设计)人: 肖立明;方宇;胡定玉 申请(专利权)人: 上海工程技术大学
主分类号: B61K9/12 分类号: B61K9/12
代理公司: 上海唯智赢专利代理事务所(普通合伙) 31293 代理人: 姜晓艳
地址: 201620 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 弧形轨道 参数检测装置 本实用新型 车轮表面 地铁车轮 滑块 摄像机 线激光光源 摄像头 车轮踏面 光条图像 轨道工程 激光光源 激光平面 检修方便 距离设置 人工测试 光条 投射 相隔 采集 测试
【说明书】:

实用新型涉及轨道工程的技术领域,公开了一种便携式地铁车轮踏面的参数检测装置,包括与车轮踏面相隔一定距离设置的弧形轨道,设置所述弧形轨道上的滑块,所述滑块能够沿弧形轨道往复运动,其上设置有线激光光源和摄像机,所述线激光光源的激光平面沿一个指定角度投射在车轮表面上,形成光条,所述摄像机的摄像头沿另一个指定角度对车轮表面的光条图像进行采集。本实用新型既可以避免繁琐的机械式人工测试,又无需固定安装,检修方便,测试简单,整个装置的结构简单,便于推广应用。

技术领域

本实用新型涉及轨道工程的技术领域,具体涉及一种便携式地铁车轮踏面的参数检测装置。

背景技术

轨道交通逐步成为大型城市的主干交通,车轮是车辆最终受力配件,它把车辆的载荷传给钢轨,并在钢轨上转动,因此车轮保持良好的状态是地铁安全运行的前提条件。我国轨道车辆相关部门都对各型车轮的磨耗限度均有明确的规定,在检修车轮时,主要通过测量轮缘踏面外形的几何参数来判断车轮的磨耗程度。这样需要检测的轮对参数多达20多个,如轮缘厚度、轮辋宽度、轮对踏面擦伤、局部凹下深度和剥离长度等,这些都是直接影响车辆运行的重要参数,必须及时、准确地加以检测。现有检测工具主要依靠机械装置或者激光测量装置进行多点测量,计算车轮各种参数,由于车轮磨损不均衡,车轮并不是绝对圆形,仅仅依靠测量几个点计算参数精度低,并且机械式测量人为操作误差大,易受主观影响。激光自动测量装置主要靠安装在车上或者地面的固定装置进行测量,不能移动使用,给检修带来不便,并且其对传感器和被测车轮的相对位置要求严格,否则容易产生测量误差。

实用新型内容

本实用新型提供了一种便携式地铁车轮踏面的参数检测装置,解决了现有机械式人工测量误差大,精度低,激光自动测量装置不能移动使用,给检修带来不便等问题。

本实用新型可通过以下技术方案实现:

一种便携式地铁车轮踏面的参数检测装置,包括与车轮踏面相隔一定距离设置的弧形轨道,设置所述弧形轨道上的滑块,所述滑块能够沿弧形轨道往复运动,其上设置有线激光光源和一个或多个摄像机,所述线激光光源的激光平面沿一个指定角度投射在车轮踏面上,形成光条,所述摄像机的摄像头沿另一个指定角度对车轮踏面的光条图像进行采集。

进一步,所述弧形轨道包括两条平行设置的弧形导杆,两条所述弧形导杆之间相隔一定间隙,所述线激光光源和摄像机分别设置在滑块的两端,其激光平面和摄像头穿过间隙照射到车轮踏面。

进一步,所述线激光光源垂直于滑块的上表面设置,所述摄像机与滑块的上表面呈20度到60度设置。

进一步,所述滑块包括平行设置的上支架和下支架,所述上支架和下支架分别设置在弧形轨道的上下表面上,两者之间设置有驱动机构,所述驱动机构用于带动上支架、下支架同步沿弧形轨道往复运动。

进一步,所述驱动机构包括对称设置在上支架和下支架之间的多个滚轮对,相对两个滚轮对分别接触弧形轨道的上下表面,所述滚轮对包括连接轴,所述连接轴的两端分别设置一个滚轮,其中一个连接轴上设置有第一齿轮,与所述第一齿轮啮合的第二齿轮与电动机的输出轴相连。

进一步,所述滚轮对的两个滚轮、相背向的端面的整个边缘设置外延档边,所述外延档边与弧形轨道的侧面相接触。

进一步,所述上支架的中心设置有连接杆,所述连接杆向下延伸穿过下支架的中心的通孔,与螺母配合固定,所述螺母与下支架之间设置有弹簧,所述弹簧套装在连接杆上,所述通孔的内径大于连接杆的外径。

进一步,所述弧形轨道的两端各设置一个支撑板,所述支撑板朝向弧形轨道的圆心设置,用于支撑弧形轨道,使其与车轮踏面相隔一定距离。

进一步,其中一个所述支撑板远离圆心的一端设置有控制盒,所述控制盒的正面设置有触摸屏,内部设置有控制模块,所述控制模块与线激光光源、摄像头、触摸屏均相连。

本实用新型有益的技术效果在于:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海工程技术大学,未经上海工程技术大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201821662505.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top