[实用新型]一种LED芯片脉冲结温测量装置有效
申请号: | 201821682100.7 | 申请日: | 2018-10-17 |
公开(公告)号: | CN209310947U | 公开(公告)日: | 2019-08-27 |
发明(设计)人: | 谢育仁;曾访云;杨国明 | 申请(专利权)人: | 佛山市香港科技大学LED-FPD工程技术研究开发中心 |
主分类号: | G01K13/00 | 分类号: | G01K13/00;G01N25/20;G01R31/28 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 肖平安 |
地址: | 528000 广东省佛山市南海区桂城*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试仪 热瞬态 脉冲 继电器 大电流驱动 脉冲控制器 脉冲电源 结温 测量装置 加热线路 热阻 测量 脉冲工作模式 本实用新型 常开接点 控制连接 使用场景 同步控制 微小电流 正极线路 电连接 参考 | ||
本实用新型公开了一种LED芯片脉冲结温测量装置,包括热瞬态测试仪、脉冲控制器和PC控制端,热瞬态测试仪包括有大电流驱动加热线路和微小电流测量线路,脉冲控制器包括脉冲电源和继电器,继电器的线圈和脉冲电源电连接,继电器的常开接点连接在大电流驱动加热线路的正极线路上,热瞬态测试仪和脉冲电源分别通过RS232串口数据线和PC控制端控制连接;其可通过PC控制端同步控制热瞬态测试仪和脉冲控制器把大电流驱动部分切断模拟LED芯片在脉冲工作模式下的实际使用场景,具有可实现在脉冲下测量LED芯片的结温和热阻,得到LED芯片在脉冲下的真实结温与热阻,为设计提供精准参考的优点。
技术领域
本实用新型属于LED芯片结温测量技术领域,具体涉及一种可模拟LED实际使用场景实现在脉冲下测量LED芯片的结温和热阻的测量装置。
背景技术
目前测量LED结温与热阻比较权威的测试方法是使用Mentor Graphics公司研发制造的如附图1所示的热瞬态测试仪,其首先通过大电流源A1发热把测试LED芯片加热到热平衡,然后关闭大电流源A1,在微小电流源A2条件下测量LED芯片冷却过程的电压变化,得到完整的冷却曲线;该测试装置只能测量LED芯片在热稳定下的结温和热阻,并不能测量LED芯片在脉冲下的结温和热阻,导致测试结果不精准、存在可靠性和耐久性的问题,无法为LED芯片在脉冲下使用提供精准的设计参考,制约了LED芯片在高效节能环保照明领域的广泛应用。
发明内容
针对现有技术的不足,本实用新型旨在提供一种可模拟实现在脉冲使用场景下测量LED芯片的结温和热阻的LED芯片脉冲结温测量装置。
为实现上述目的,本实用新型采用如下技术方案:
一种LED芯片脉冲结温测量装置,包括热瞬态测试仪、脉冲控制器和PC控制端,热瞬态测试仪包括有大电流驱动加热线路和微小电流测量线路,脉冲控制器包括脉冲电源和继电器,继电器的线圈和脉冲电源电连接,继电器的常开接点连接在大电流驱动加热线路的正极线路上,热瞬态测试仪和脉冲电源分别通过RS232串口数据线和PC控制端控制连接。
本实用新型具有如下有益效果:
本实用新型一种LED芯片脉冲结温测量装置,其在现有热瞬态测试仪的基础上附加设置脉冲控制器和PC控制端,脉冲控制器其继电器的线圈和脉冲控制器的脉冲电源电连接,继电器的常开接点连接在热瞬态测试仪的大电流驱动加热线路的正极线路上,热瞬态测试仪和脉冲电源分别通过RS232串口数据线和PC控制端控制连接;在测量LED芯片的结温和热阻时,微小电流测量线路输出微小电流用于测量,大电流驱动加热线路输出大电流用于驱动LED加热,可通过PC控制端同步控制热瞬态测试仪和脉冲控制器把大电流驱动部分切断模拟LED芯片在脉冲下的实际使用场景,脉冲控制器可控制脉冲个数和宽度,测量数据采集和处理由热瞬态测试仪完成,LED的结温和热阻由热瞬态测试仪输出;具有可模拟实现在脉冲使用场景下测量LED芯片的结温和热阻,得到LED芯片在脉冲工作模式下的真实结温与热阻,为设计提供精准参考价值的优点。
附图说明
图1为现有LED结温与热阻测量用的热瞬态测试仪的电路原理图;
图2为本实用新型一种LED芯片脉冲结温测量装置的简单原理图。
图中:1、热瞬态测试仪;2、脉冲控制器;3、PC控制端;11、大电流驱动加热线路;12、微小电流测量线路;21、脉冲电源;22、继电器;22a、线圈;22b、常开接点;30、RS232串口数据线。
具体实施方式
下面结合附图及具体实施例,对本实用新型作进一步的描述,以便于更清楚地理解本实用新型要求保护的技术思想。
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