[实用新型]一种基于接触式与非接触式相结合的厚度测量装置有效

专利信息
申请号: 201821685067.3 申请日: 2018-10-17
公开(公告)号: CN209166338U 公开(公告)日: 2019-07-26
发明(设计)人: 张易晨;吴庆霖 申请(专利权)人: 吴庆霖
主分类号: G01B7/06 分类号: G01B7/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 221600 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 接触式 厚度测量装置 电容传感器 矩阵键盘 微控制 与非 显示屏 电源 测量 本实用新型 现代化社会 测量要求 厚度测量 用户体验
【说明书】:

本实用新型涉及一种基于接触式与非接触式相结合的厚度测量装置,包括微控制中心、电容传感器、厚度测量装置、显示屏、矩阵键盘、电源。所述电容传感器、矩阵键盘、显示屏、厚度测量装置均与微控制中心相连,电容传感器、矩阵键盘、显示屏、厚度测量装置、微控制中心与电源相连,实现了接触式与非接触式厚度测量的结合,使得用户能够根据实际情况选择更为优异的测量方式,能够针对不同环境采用最为适宜的测量方式,极大提高了对现代化社会多样化测量要求的适应并大大提高了用户体验。

技术领域

本实用新型涉及一种厚度测量装置,尤其涉及一种基于接触式与非接触式相结合的厚度测量装置。

背景技术

在现有的厚度测量装置中,多是采用单一的接触式或非接触式厚度测量装置进行厚度测量。接触式厚度测量装置需要紧贴被测材料进行测量,精确度较高,与被测量物体接触面较大不易受表面粗糙度的影响;非接触式厚度测量装置无需与被测材料进行接触,测量速度、测量范围要大于接触式厚度测量装置。使用接触式厚度测量装置在遇到测量速度要求较高,或测量易碎,不可轻易触碰的材料时便无法满足测量要求;非接触式厚度测量装置测量精确度远小于接触式厚度测量装置。传统的测量方式难以适应多变的测量环境。随着电子测量与传感器技术的迅速发展,现代社会中对仪器测量的精密度、便利性的要求也在日益提高。不同的被测材料与使用场景对厚度测量装置的精密度,测量范围等要求也各不相同。传统的单一测量方式无法满足测量要求。

发明内容

本实用新型的目的是实现接触式厚度测量装置与非接触厚度测量装置结合,使其具有对不同测量环境的适应性,以满足现代社会对在不同环境下对厚度测量仪器多变的需求,弥补传统厚度测量装置适应性较差的缺陷。

本实用新型的技术方案是一种基于接触式与非接触式相结合的厚度测量装置包括微控制中心、电容传感器、厚度测量装置、显示屏、矩阵键盘、电源。所述电容传感器、矩阵键盘、显示屏、厚度测量装置均与微控制中心相连,电容传感器、矩阵键盘、显示屏、厚度测量装置、微控制中心与电源相连。

所述厚度测量装置包括底座、下部探头、主尺、上部探头、压力传感器、电机、转轮、齿轮、齿条、附尺、挡板。主尺固定于底座上方,主尺内腔中装有电机和转轮;电机或转轮带动齿轮,齿轮带动齿条直线运动;附尺和上部探头固定在齿条上;压力传感器固定于上部探头;下部探头固定于底座上。

本实用新型的有益效果是本实用新型可通过矩阵键盘将厚度测量装置配置为接触式与非接触式两种模式,当本实用新型被配置为接触模式时,可将被测材料放置于上、下部探头中间便可开始启动测量,由微控制中心自动控制电机驱动齿条升降,上部探头接有压力传感器,一起固定在齿条上,随齿条升降,当微控制中心检测到压力超过设定阈值时,说明上部探头已充分接触被测材料,此时微控制中心控制电机停止,使用者也可通过矩阵键盘设置为手动控制模式,手动控制使得上部探头与被测材料接触。主尺与附尺上均设有刻度,可直接读出接触模式下的被测材料厚度。当厚度测量装置被配置为非接触模式时,微控制中心自动控制上部探头回归预设位置,将电容数据与微控制中心内部存储的此距离下的拟合数据进行比较,转化为初始厚度数据,此时将被测材料放置于电容传感器中间便可读出被测材料厚度数据。

本实用新型相较于传统的厚度测量装置,实现了接触式与非接触式厚度测量的结合,使得用户能够根据实际情况选择更为优异的测量方式,能够针对不同环境采用最为适宜的测量方式,极大提高了对现代化社会多样化测量要求的适应并大大提高了用户体验。

附图说明

图1本实用新型结构框图,

图2本实用新型结构示意图,

图3电容传感器示意图

图4 显示器连接图

图5微控制中心电路图

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