[实用新型]一种温控器低温试验台

说明书

本实用新型涉及温控器检测设备技术领域，且公开了一种温控器低温试验台，包括试验台本体，所述试验台本体正面的顶端固定套接有电热圈，所述试验台本体正面顶端的一侧铰接有箱门，所述试验台本体正面底端的一侧开设有散热孔，所述试验台本体内部底端一侧的背面固定安装有电插座，所述试验台本体内部底端一侧的背面固定安装有位于电插座一侧的主控制器，所述主控制器上的电源线与电插座上的插孔电连接。该温控器低温试验台，通过接触器使试验台本体可以根据不同的PLC程序而自动切换运行程序，减小人为控制部分，将控制单元集成化，接线更为简单化，并且运行程序的响应时间更准确，进而使安全性得到提高。

技术领域

本实用新型涉及温控器检测设备技术领域，具体为一种温控器低温试验台。

背景技术

温控器，是指根据工作环境的温度变化，在开关内部发生物理形变，从而产生某些特殊效应，产生导通或者断开动作的一系列自动控制元件，也叫温控开关、温度保护器、温度控制器，简称温控器或是通过温度保护器将温度传到温度控制器，温度控制器发出开关命令，从而控制设备的运行以达到理想的温度及节能效果。

为了对温控器进行寿命检测，通常都会采用温控器试验台进行检测，温控器单次检测耐久少则1万次，多则10万次，然而传统的温控器试验台内部的电路通常都会连接电阻丝，因此在测试50万次后电阻丝及其其他部件都会出现损坏，使用寿命低，并且传统的温控器试验台的控制部件分散，接线复杂，运行程序的响应时间不准确，因此温控器试验台在使用不同的实验方法时需要大量的人工进入其内部对控制元件进行参数修改，但由于许多的控制元件需要通电操作，因此安全性低，为此推出一种温控器低温试验台。

发明内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种温控器低温试验台，具备安全性高、使用寿命长的优点，解决了传统的温控器试验台内部的电路通常都会连接电阻丝，因此在测试50万次后电阻丝及其其他部件都会出现损坏，使用寿命低，并且传统的温控器试验台的控制部件分散，接线复杂，运行程序的响应时间不准确，因此温控器试验台在使用不同的实验方法时需要大量的人工进入其内部对控制元件进行参数修改，但由于许多的控制元件需要通电操作，因此安全性低的问题。

本实用新型提供如下技术方案：一种温控器低温试验台，包括试验台本体，所述试验台本体正面的顶端固定套接有电热圈，所述试验台本体正面顶端的一侧铰接有箱门，所述试验台本体正面底端的一侧开设有散热孔，所述试验台本体内部底端一侧的背面固定安装有电插座，所述试验台本体内部底端一侧的背面固定安装有位于电插座一侧的主控制器，所述主控制器上的电源线与电插座上的插孔电连接，所述主控制器底端的接柱通过导线与接触器的输入端电连接，所述接触器的背面活动套接有支架，所述支架固定安装在试验台本体内部的底端，所述接触器的输出端通过导线与端子排的输入端电连接，所述端子排的背面固定安装在试验台本体内部的底端，所述端子排的输出端通过导线与热敏电阻的输入端电连接，所述热敏电阻的输出端通过导线与电热圈输入端电连接，所述电热圈的输出端通过导线与主控制器一侧顶端的接柱电连接。

优选的，所述箱门正面的中部固定套接有玻璃，所述箱门上玻璃的长度值和宽度值分别大于电热圈的长度值和宽度值。

优选的，所述散热孔的数量为十八个，十八个所述散热孔每六个一组分别分布在试验台本体正面底端的一侧。

优选的，所述接触器的额定电压为220V，所述接触器的最高操作频率为600次/小时。

优选的，所述热敏电阻的工作温度为-110～121.11℃，所述热敏电阻的额定电流为10 ～ 15 µA。

与现有技术对比，本实用新型具备以下有益效果：

1、该温控器低温试验台，通过接触器使试验台本体可以根据不同的PLC程序而自动切换运行程序，减小人为控制部分，将控制单元集成化，接线更为简单化，并且运行程序的响应时间更准确，进而使安全性得到提高。