[实用新型]内存条性能测试设备有效

专利信息
申请号: 201821686826.8 申请日: 2018-10-18
公开(公告)号: CN208999845U 公开(公告)日: 2019-06-18
发明(设计)人: 崔强;陈殷;胡安勤;王湘玉;马戎 申请(专利权)人: 深圳市光彩凯宜电子开发有限公司
主分类号: G05D23/19 分类号: G05D23/19;G06F11/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518110 广东省深圳市龙华新区观澜*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 内存条 环境调节装置 测试装置 通风孔 性能测试设备 本实用新型 高温环境 加热组件 空气抽吸 抽风机 排气孔 测试环境 低温环境 固定内存 空气加热 排出空气 外部连通 外界空气 固定槽 加热 冷空气
【权利要求书】:

1.内存条性能测试设备,其特征在于:包括用于放置内存条(4)的测试装置(5)和用于调节测试环境的环境调节装置(6);

测试装置(5)内设有用于固定内存条(4)的固定槽(51)和用于排出空气的排气孔(52);

环境调节装置(6)包括加热组件(61)和与外部连通的通风孔(62);

测试装置(5)和环境调节装置(6)连接处设有抽风机(63)将环境调节装置(6)的空气抽吸入测试装置(5)。

2.根据权利要求1所述的内存条性能测试设备,其特征在于:固定槽(51)长度方向的两端设有温度传感器(53)。

3.根据权利要求1所述的内存条性能测试设备,其特征在于:所述加热组件(61)包括外露的加热丝组(611),加热丝组(611)外露的一面设置有隔热板(64),所述隔热板(64)上开设有均匀分布的透风孔(641)。

4.根据权利要求3所述的内存条性能测试设备,其特征在于:所述加热丝组(611)正对隔热板(64)的两侧面外露,其他面均由隔热罩(612)包覆。

5.根据权利要求1所述的内存条性能测试设备,其特征在于:测试装置(5)远离环境调节装置(6)的一端设有排风扇(55)。

6.根据权利要求1所述的内存条性能测试设备,其特征在于:通风孔(62)设置在加热组件(61)远离测试装置(5)的一端,加热组件(61)的连线端(613)设置于靠近通风孔(62)的一端;加热组件(61)的连线端(613)由隔热保护板(65)包覆,隔热保护板(65)底部开设有过渡孔(651)。

7.根据权利要求1所述的内存条性能测试设备,其特征在于:测试装置(5)包括两组固定槽(51),且两组固定槽(51)之间设置板卡CPU,板卡CPU外罩设有保护隔离罩(54)。

8.根据权利要求1所述的内存条性能测试设备,其特征在于:测试装置(5)和环境调节装置(6)上方盖设有盖体(71),盖体(71)位于固定槽(51)上方的部分开设有放置口(711);放置口(711)上还是活动盖(72)设有活动盖(72)。

9.根据权利要求8所述的内存条性能测试设备,其特征在于:内存条性能测试设备还包括承装测试装置(5)和环境调节装置(6)的外壳(7),外壳(7)上固定连接有调节气缸(73),活动盖(72)的一端与调节气缸(73)的活动端连接。

10.根据权利要求9所述的内存条性能测试设备,其特征在于:外壳(7)侧面上设有导轨(74),活动盖(72)上设有滑动连接于导轨(74)内的滑动条(721)。

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