[实用新型]ADC应用结构及电子设备

说明书

本实用新型公开一种ADC应用结构，其特征在于，包括处理器、ADC、多路模拟开关及若干采样单元，每个采样单元经多路模拟开关、ADC与处理器形成检测回路，所述处理器通过多路模拟开关控制每个检测回路的断开与闭合。本实用新型还公开一种包括上述ADC应用结构的电子设备。本实用新型的有益效果在于：通过多路模拟开关使得ADC能接收多个采样单元的模拟信号以达到多路检测的目的，可以减少电子设备中ADC的数量，降低电子设备的软硬件成本。

【技术领域】

本实用新型涉及电子设备技术领域，尤其涉及一种ADC应用结构及电子设备。

【背景技术】

ADC(Analog-to-Digital Converter，模/数转换器或者模数转换器)，用于将真实世界的温度、压力、声音或者图像等模拟信号转换成更容易储存、处理和发射的数字信号，被广泛应用于各种电子设备中。例如，现在电子设备的处理器、充电装置等元器件在大功率、长时间工作时产生较大的热量，如不进行热管理控制，会严重降低电子设备的性能，甚至烧坏电子设备。现有技术中将热源器件的温度变化通过热敏电阻转化为电压信号传给ADC单元后再转换成数字信号传给处理器，接着处理器根据数字信号进行分析处理以方便热管理，然而，目前的电子设备要么设置有限的ADC仅对关键的热源器件进行热管理控制，要么增加ADC的数量或者增设专用ADC芯片来对所有的热源器件进行热管理控制，前者降低电子设备的寿命和性能，后者较大增加电子设备的软硬件成本。

鉴于此，实有必要提供一种ADC应用结构及电子设备以克服上述缺陷。

【实用新型内容】

本实用新型的目的是提供一种ADC应用结构及使用该ADC应用结构的电子设备，旨在通过单通道的ADC来检测多个采样单元，降低电子设备的软硬件成本。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种ADC应用结构，包括处理器、ADC、多路模拟开关及若干采样单元，每个采样单元经多路模拟开关、ADC与处理器形成检测回路，所述处理器通过多路模拟开关控制每个检测回路的断开与闭合。

在一个优选实施方式中，所述ADC的输入端与多路模拟开关相连以用于接收采样单元的模拟信号，所述ADC的输出端与处理器相连以将转化后的数字信号发给处理器。

在一个优选实施方式中，每个检测回路在所述处理器的控制下按照预设的时间和频率依次断开与闭合。

在一个优选实施方式中，所述采样单元的数量至少为两个。

在一个优选实施方式中，所述多路模拟开关包括一个控制端、一个连接端及若干选择端，所述控制端通过导线连接到所述处理器，所述连接端通过导线连接到所述ADC的输入端，每个选择端通过导线与一个采样单元相连，所述处理器通过所述控制端控制所述连接端与一个选择端导通以将对应的采样单元与ADC的输入端导通。

在一个优选实施方式中，所述多路模拟开关为场效应晶体管。

在一个优选实施方式中，所述选择端的数量大于或等于所述采样单元的数量。

本实用新型还提供一种包括上述ADC应用结构的电子设备。

本实用新型提供的ADC应用结构通过多路模拟开关使得ADC能接收多个采样单元的模拟信号以达到多路检测的目的，可以减少电子设备中ADC的数量，降低电子设备的软硬件成本。

为使实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举本实用新型较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

【附图说明】

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。