[实用新型]多通道光学测试仪

说明书

本公开公开了一种多通道光学测试仪。多通道光学测试仪用于测试位于多根待测试跳线两端的光纤连接器的光纤连接质量，并且包括光源、光学开关和一个插入损耗探测器。光源用于向待测试跳线发射测试光束。光学开关通过自动切换能够将光源光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根。所述一个插入损耗探测器能够光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根，用于测试光纤连接器的插入损耗。所述一个插入损耗探测器通过光纤束连接到所述多根待测试跳线，所述光纤束由多根光纤构成，并且所述多根光纤在第一端束缚在一起，并且在第二端分散成单独的光纤线。多通道光学测试降低了插入损耗探测器的成本。

技术领域

本公开总体上涉及光学测试领域。更具体来说，本公开涉及一种用于测试光纤连接器的多通道光学测试仪。

背景技术

光纤连接器用于将一根光纤与另一根光纤光学相连，而多通道光学测试仪用于测量跳线两端的光纤连接器的光纤连接质量，包括插入损耗(IL)和回波损耗(RL)等性能参数。光纤连接器的插入损耗是指光从一根光纤通过一个连接部(即，一对光纤连接器的互相连接部)到达另一根光纤、并从另一根光纤输出时发生的损耗增加值，而光纤连接器的回波损耗是指光在通过一个连接部时向后反射的损耗增加值。

图1示出当前的多通道光学测试仪1’，包括光源11’、光学开关12’、n个输出接口13’、n条标准测试跳线3’、n个输入接口19’、n个插入损耗探测器16’、以及回波损耗探测器14’。光源11’通过光学开关12’的切换连接到其中一个输出接口13’。回波损耗探测器14’通过光纤耦合器15’连接在光源11’和光学开关12’之间。多通道光学测试仪1’可以容纳n条跳线2’进行测试，其中光纤连接器21’和22’分设在跳线20’两端。

在光纤连接器21’测试期间，将光纤连接器21’连接至标准测试跳线3’，并将光纤连接器22’连接至插入损耗探测器16’，在n个输出接口13’之间切换光学开关12’，完成n个光纤连接器21’的测试。其后，利用类似的方法完成光纤连接器22’的测试。

现有的多通道光学测试仪需要使用多个插入损耗探测器。众所周知，插入损耗探测器的价格高昂，从而导致多通道光学测试仪的成本居高不下。

实用新型内容

本公开的目的之一是提供一种能够克服现有技术中至少一个缺陷的多通道光学测试仪。

本公开的一个方面公开了一种多通道光学测试仪。所述多通道光学测试仪用于测试位于多根待测试跳线两端的光纤连接器的光纤连接质量。所述多通道光学测试仪包括：光源，所述光源用于向待测试跳线发射测试光束；光学开关，所述光学开关通过自动切换能够将光源光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根；和一个插入损耗探测器，所述一个插入损耗探测器能够光学连接到所述多根待测试跳线中的每一根，用于测试光纤连接器的插入损耗。所述一个插入损耗探测器通过光纤束连接到所述多根待测试跳线，所述光纤束由多根光纤构成，并且所述多根光纤在第一端束缚在一起，并且在第二端分散成单独的光纤线。

在一个实施例中，所述多通道光学测试仪还包括回波损耗探测器，用于测试光纤连接器的回波损耗。

在一个实施例中，回波损耗探测器连接在光源和光学开关之间的光路上。

在一个实施例中，所述多通道光学测试仪还包括用于对多通道光学测试仪进行归零的多根标准测试跳线。

在一个实施例中，标准测试跳线的一端设有普通连接器，用于光学连接光学开关，而另一端设有主连接器，用于光学连接位于待测试跳线两端的光纤连接器中的一个。

在一个实施例中，所述多根光纤是裸光纤或涂覆光纤。

在一个实施例中，所述多根光纤是涂覆有环氧树脂的涂覆光纤。

在一个实施例中，所述光纤束包括用于将束缚的光纤分成单独的光纤线的分散位置。