[实用新型]一种斗轴外圆的检具

权利要求书

1.一种斗轴外圆的检具，包括检测基板(4)、斗轴套(10)、斗轴、上顶尖(3)、下顶尖(6)、左顶尖(12)、顶尖座一(9)和顶尖座二(7)，其特征在于：所述检测基板(4)竖直布置，所述上顶尖(3)包括圆锥体(2)和圆柱体(1)，所述圆锥体(2)位于圆柱体(1)的下端，且圆锥体(2)和圆柱体(1)同轴设置，所述圆柱体(1)贯穿顶尖座一(9)与圆锥体(2)固定连接，所述上顶尖(3)、下顶尖(6)和左顶尖(12)的结构均相同，所述下顶尖(6)和顶尖座二(7)活动连接，所述斗轴套(10)位于检测基板(4)的中间，所述上顶尖(3)、下顶尖(6)的一端均与斗轴套(10)的上端面接触，所述检测基板(4)上设有若干条定位槽(8)，所述定位槽(8)内设有滑轨，所述顶尖座一(9)和顶尖座二(7)的下端设有滑块(11)，所述滑块(11)和滑轨配合，所述检测基板(4)的内部设有驱动装置，所述斗轴套(10)的内部设有轴孔(13)，所述斗轴贯穿轴孔(13)与斗轴套(10)连接,所述斗轴套(10)分为上端部分(14)和下端部分(15)，所述上端部分(14)的内径等于斗轴的最大极限尺寸，所述下端部分(15)的内径等于斗轴的最小极限尺寸。

2.根据权利要求1所述的一种斗轴外圆的检具，其特征在于：所述驱动装置控制滑块(11)移动。

3.根据权利要求1所述的一种斗轴外圆的检具，其特征在于：所述上顶尖(3)和下顶尖(6)上下对称布置。

4.根据权利要求1所述的一种斗轴外圆的检具，其特征在于：所述检测基板(4)上设有通孔一，所述通孔一的内径大于斗轴的外径。

5.根据权利要求1所述的一种斗轴外圆的检具，其特征在于：所述定位槽(8)有若干条，若干条所述定位槽(8)沿斗轴套(10)的圆周方向等角度布置。

6.根据权利要求1所述的一种斗轴外圆的检具，其特征在于：所述顶尖座一(9)和顶尖座二(7)的结构相同。

7.根据权利要求1所述的一种斗轴外圆的检具，其特征在于：所述顶尖座一(9)和顶尖座二(7)上均设有通孔二(5)，所述通孔二(5)的直径和圆柱体(1)的直径相同。

8.根据权利要求1所述的一种斗轴外圆的检具，其特征在于：所述上顶尖(3)和顶尖座一(9)通过螺栓连接。