[实用新型]一种键盘测试按键敲击头

说明书

本实用新型涉及键盘测试装置领域，尤指一种键盘测试按键敲击头，包括圆柱体状的外壳、磁性活动轴、铁芯连接杆、非磁性连杆和测试胶头，所述外壳内部沿轴向方向设有上下贯穿的通孔，所述通孔在外壳内形成容置腔，所述磁性活动轴可上下活动地设置在容置腔内，所述容置腔内设有线圈，所述线圈缠绕在磁性活动轴周围，所述外壳上端一侧还设有与容置腔相通的导线孔，所述线圈连接有导线，所述导线从容置腔内通过电线孔引出到外壳外部，所述磁性活动轴上端设有铁芯块，所述铁芯连接杆与磁性活动轴下端连接，所述非磁性连杆与铁芯连接杆下端连接，并且延伸至外壳下端外侧，能够更好的测试键盘按键的回弹和触点的通断，还能测试按键灵敏度。

技术领域

本实用新型涉及键盘测试装置领域，尤指一种键盘测试按键敲击头。

背景技术

作为主要的输入结构，按键被广泛地应用于计算机键盘、手机以及计算器等电子产品中 ；对于上述计算机键盘、手机以及计算器等电子产品而言，工作时必须敲打按键以使得按键触点导通断开，从而将字母、数字、标点符号等输入到相应的计算机、手机或者计算器中。

在键盘生产过程中，出产前必须对键盘成品进行质量检测时，即需要对每一个按键进行击打，以测试其回弹和触点的通断。现有技术中存在形式各样的键盘测试装置 ；其中，对于键盘测试装置而言，其主要通过按键敲击头来完成待测试键盘的按键击打动作，但是现有的键盘测试装置敲击头只能测试其回弹和触点的通断，不能测试键盘的灵敏度。

发明内容

为解决上述问题，本实用新型提供一种能测试键盘灵敏度的键盘测试按键敲击头。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种键盘测试按键敲击头，包括圆柱体状的外壳、磁性活动轴、铁芯连接杆、非磁性连杆和测试胶头，所述外壳内部沿轴向方向设有上下贯穿的通孔，所述通孔在外壳内形成容置腔，所述磁性活动轴可上下活动地设置在容置腔内，所述容置腔内设有线圈，所述线圈缠绕在磁性活动轴周围，所述外壳上端一侧还设有与容置腔相通的导线孔，所述线圈连接有导线，所述导线从容置腔内通过电线孔引出到外壳外部，所述磁性活动轴上端设有铁芯块，所述铁芯连接杆与磁性活动轴下端连接，所述非磁性连杆与铁芯连接杆下端连接，并且延伸至外壳下端外侧，所述测试胶头套接在非磁性连杆下端。

进一步地，所述外壳包括圆柱体状的壳体和上盖，所述上盖下端与壳体上端铆接固定。

进一步地，所述壳体内部上侧为容置腔，所述容置腔的直径小于上盖通孔直径，所述壳体下侧为圆形通孔，所述壳体下侧通孔的直径小于容置腔直径。

其中，所述上盖通孔直径为8.1mm，所述壳体直径为13mm。

进一步地，所述上盖内部通孔上端还设有对铁芯块限位的凸出块，所述凸出块一体成型设置在上盖的通孔内。

进一步地，所述壳体下端还连接有一体成型的圆柱端，所述圆柱端表面设有螺纹，所述圆柱端直径为6mm。

本实用新型的有益效果在于：本实用新型键盘测试敲击头在自然状态下，活动轴与测试胶头由于重力作用是下垂的，当测试胶头与键盘接触时，键盘的阻力会使得活动轴向上移动，此时测试胶头能够通过活动轴的重力对键盘进行灵敏度测试；当活动轴向上移动到一定位置的时候，线圈通电并产生磁场，磁场磁力作用于活动轴，并驱动活动轴向下移动，使得测试胶头敲击键盘按键；当线圈断电后，磁场消失，按键复位的同时驱动活动轴上移，从而完成键盘的敲击测试。本实用新型测试胶头通过活动轴的重力对键盘的灵敏度进行测试，活动轴的回位通过按键的弹力完成，能够更好的测试键盘按键的回弹和触点的通断，还能测试按键灵敏度，提高产品的质量。

附图说明

图1 是本实用新型的结构示意图。

图2 是本实用新型的立体图。