[实用新型]一种工业无损检测X射线影像板激光扫描仪有效

专利信息
申请号: 201821747106.8 申请日: 2018-10-26
公开(公告)号: CN209416947U 公开(公告)日: 2019-09-20
发明(设计)人: 李新章;李东杰;刘国超;刘家英;贾春燕;冉舒能;夏思峰 申请(专利权)人: 北京协同创新研究院
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹;李相雨
地址: 100094 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 工业无损检测 激光扫描仪 本实用新型 激光 计算机图像处理 恒定 光电放大单元 系统运行控制 可见光 传送单元 传统胶片 读取效率 高速激光 激光扫描 聚焦单元 模数转换 显影定影 信号失真 影像信号 准直单元 可用 扩束 胶片 冲洗 读出 存储 扫描 节约 替代
【说明书】:

实用新型提供一种工业无损检测X射线影像板激光扫描仪,包括:外壳、激光恒温扩束准直单元、激光扫描聚焦单元、影像信号接收和光电放大单元、模数转换及系统运行控制单元、计算机图像处理单元及IP板传送单元。本实用新型实施例提供的工业无损检测X射线影像板激光扫描仪,用可以重复使用的IP板替代传统胶片,不再用显影定影冲洗胶片,而是用高速激光扫描读出IP板存储的X光影像,读后的IP板可用可见光消影后重复使用,提高了读取效率、节约了资源、降低了成本、减少了环境污染;同时,保持激光为恒定温度,有效避免了由温度变化造成的信号失真。

技术领域

本实用新型实施例涉及成像技术领域,具体涉及一种工业无损检测X射线影像板激光扫描仪。

背景技术

在工业无损检测如金属焊缝的无损检测中,传统上都是采用感光胶片实现,以胶片作为记录信息的器材。一般把被检的物体安放在离射线装置500~1000mm位置处,把胶片紧贴在试样背后,让射线照射适当的时间(几分钟到几十分钟)进行曝光,把曝光后的胶片在暗室中进行显影、定影、水沈和干燥。将干燥的底片放在观片灯的显示屏上观察,根据底片的黑度和图像来判断存在缺陷的种类、大小和数量,随后按通行的标准对缺陷进行评定分级。

目前我国工业无损检测中采用感光胶片成像,是模拟成像,成本高、效率低且污染环境。

实用新型内容

为解决现有技术工业无损检测中采用感光胶片成像,成本高、效率低且污染环境的问题,本实用新型实施例提供一种工业无损检测X 射线影像板激光扫描仪。

本实用新型实施例提供一种工业无损检测X射线影像板激光扫描仪,包括:外壳、激光恒温扩束准直单元、激光扫描聚焦单元、影像信号接收和光电放大单元、模数转换及系统运行控制单元、计算机图像处理单元及IP板传送单元;所述激光恒温扩束准直单元包括恒温控制模块及激光扩束准直器,用于发射经扩束和准直处理的恒温激光;所述激光扫描聚焦单元包括振镜扫描器、物镜及光导模块,所述振镜扫描器将所述激光恒温扩束准直单元射出的激光进行振镜反射后,再利用所述物镜聚焦,形成激光斑,经过所述光导模块的光路处理实现逐点逐行扫描IP板,由此激发出IP板影像信号;所述影像信号接收和光电放大单元包括光学影像信号收集器、光学滤波器、光电倍增管和电子放大器,用于对所述IP板影像信息做滤波、光放大、光电转换及电子放大处理;所述模数转换及系统运行控制单元用于对经电子放大处理的IP板影像信息进行模数转换及进行系统运行控制;所述计算机图像处理单元用于接收模数转换后的所述IP板影像信息并显示对应X 光影像的二维图像;所述IP板传送单元传送所述IP板经过激光扫描聚焦单元的光导模块下方,以供所述激光扫描聚焦单元逐点逐行扫描所述IP板。

可选地,所述激光扩束准直器包括半导体激光器、扩束镜和准直仪;所述半导体激光器用于发射激光,所述扩束镜和准直仪用于将所述半导体激光器发射的激光进行扩束和准直处理;所述恒温控制模块用于控制所述半导体激光器发射的激光保持恒定温度;所述恒温控制模块包括温控仪、温度探测器、加热装置和散热装置,所述温度探测器用于监测所述半导体激光器发射的激光的实时温度,所述温控仪用于根据所述实时温度和预设温度控制所述加热装置进行加热处理或控制所述散热装置进行制冷处理,以保证所述半导体激光器发射的激光保持在所述预设温度。

可选地,所述温度探测器和所述加热装置放置于所述半导体激光器的内部,所述散热装置放置于所述半导体激光器的外部;所述加热装置包括加热电阻,所述散热装置包括散热风扇。

可选地,所述光导模块包括放置于预设位置的三个光学平面反射镜,所述物镜聚焦后的激光经过所述三个光学平面反射镜的反射后,以预设的角度射向所述IP板。

可选地,所述预设的角度包括:激光与所述IP板的法线方向的夹角呈0~30度。

可选地,所述光学影像信号收集器垂直于所述IP板放置,且其下端在扫描线的中心上面距IP板0~10mm处。

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