[实用新型]一种大电流传输用双头测试探针

说明书

本实用新型公开了一种大电流传输用双头测试探针，包括针管，所述针管的一端滑动设置有第一针轴，所述针管的另一端滑动设置有第二针轴，所述针管内设置有弹簧，所述弹簧的一端与所述第一针轴之间设置有第三针轴，所述弹簧的另一端与所述第二针轴之间设置有第四针轴。该大电流传输用双头测试探针可实现大电流传输。

技术领域

本实用新型属于测试探针技术领域，具体涉及一种大电流传输用双头测试探针。

背景技术

测试探针是一种广泛应用于测试半导体、PCB板、FPC等起连接作用的精密探针。现有的双头测试探针，其主要包括针轴、针管、弹簧及针轴，其中针管的一端为开口结构，另一端也为开口结构，针轴设置于针管的中空腔体内，且针轴的上端伸出于针管的开口，弹簧完全置于针管的中空腔体内，并且弹簧的一端抵顶于针轴，弹簧的另一端抵顶于针轴。因此，当双测试探针接入连接时，针轴和针轴受到外力的作用将会相对针管往复移动，由于针管与针轴和针轴均为单一抵接面，无法实现大电流传输(一般不能超过2A的电流传输)，如果强行流经较大的电流，则有可能烧毁被测物，降低探针的使用寿命。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种大电流传输用双头测试探针，解决现有双头探针存在无法实现大电流传输的问题。

为了达到上述目的，本实用新型所采用的技术方案是：一种大电流传输用双头测试探针，包括针管，所述针管的一端滑动设置有第一针轴，所述针管的另一端滑动设置有第二针轴，所述针管内设置有弹簧，所述弹簧的一端与所述第一针轴之间设置有第三针轴，所述弹簧的另一端与所述第二针轴之间设置有第四针轴。

本实用新型的技术方案，还具有以下特点：

所述第三针轴和所述第四针轴内分别设置有第一盲孔，所述弹簧的两端分别设置在对应的第一盲孔中。

所述第一针轴和所述第二针轴内分别设置有第二盲孔，所述第三针轴和所述第四针轴分别伸入对应的第二盲孔中。

所述第三针轴和所述第四针轴的外侧均设置有限位台阶，所述第一针轴和所述第二针轴滑动时，其下端分别抵靠在对应的限位台阶上。

所述第三针轴和所述第四针轴伸入所述第二盲孔的端部均设置有斜面。

所述针管的两端内侧分别设置有内沿，所述第一针轴和所述第二针轴的外侧分别设置有与所述内沿配合的外沿。

本实用新型的有益效果是：本实用新型的大电流传输用双头测试探针，一方面由于增设了第三针轴和第四针轴，使得在进行电流传输时，电流可分别从第一针轴、第三针轴与针管抵接面，第二针轴、第四针轴与针管的接触面进行多点分流，实现了对大电流的传输；另一方面在传输大电流的过程中可降低电流产生的热量，避免因传输大电流而产生高温，进而可有效地保护针管内设置的弹簧不会高温烧毁，确保测试针的设用寿命更长。

附图说明

图1是本实用新型的一种大电流传输用双头测试探针的结构示意图。

图中，1.第一针轴，2.针筒，3.第三针轴，4.弹簧，5.第二针轴，6.第四针轴。

具体实施方式

以下结合附图说明和具体实施例对本实用新型的技术方案作进一步地详细说明。

如图1所示，本实用新型的一种大电流传输用双头测试探针，包括针管2，该针管2的一端可滑动地设置有第一针轴1，该针管2的另一端可滑动地设置有第二针轴5，针管2内部设置有弹簧4，该弹簧4为压缩弹簧，压缩弹簧的一端与第一针轴1之间设置有第三针轴3，压缩弹簧的另一端与第二针轴5之间则设置有第四针轴6。