[实用新型]一种改进型离轴抛物面镜焦距检测装置有效
申请号: | 201821775876.3 | 申请日: | 2018-10-29 |
公开(公告)号: | CN209055307U | 公开(公告)日: | 2019-07-02 |
发明(设计)人: | 陶春 | 申请(专利权)人: | 南京施密特光学仪器有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01B5/02 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 向文 |
地址: | 210008 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 刻度棒 红外发射器 轴向孔 离轴抛物面镜 本实用新型 红外接收器 辅助圆柱 焦距检测 焦距 改进型 操作复杂度 三维调整架 五维调整架 固定底板 焦点位置 平面定位 直接测量 干涉仪 刻度线 平面镜 圆心轴 中心点 匹配 检测 保证 | ||
本实用新型公开了一种改进型离轴抛物面镜焦距检测装置,包括干涉仪、标准平面镜、补偿球、三维调整架、五维调整架、辅助圆柱和固定底板,还包括红外发射器和红外接收器,所述补偿球上位于纵向圆心轴处开设有轴向孔,测量刻度棒与轴向孔相匹配,所述测量刻度棒上设置有刻度线,所述测量刻度棒通过轴向孔用于测量实际焦距,所述红外发射器位于辅助圆柱的中心点。本实用新型能够通过红外发射器和红外接收器进行平面定位,从而使得工作人员能够更加快速、有效的找到焦点位置,大幅提升了检测效率;利用测量刻度棒可对焦距进行直接测量,不但降低了操作复杂度,提升了效率,而且测量的精度也能够得到保证。
技术领域
本实用新型涉及光学检测技术领域,具体涉及一种改进型离轴抛物面镜焦距检测装置。
背景技术
光学元件的传统检测方法与技术已沿用了数十年。光学检测涉及被测元件材料、口径、种类以及测试技术、仪器和设备等。被测元件的种类繁多,包括有平行平板、球面、非球面、自由曲面、衍射光栅、锥镜、柱面透镜等,非球面中有特殊的非球面如抛物面、椭球面、双曲面和除此以外的其它非球面。光学检测中常用的主要仪器可分为干涉仪类、表面轮廓仪类、MTF测试仪类、精密球径仪类、焦距与偏心测试仪器类及其它仪器等。
国内外都在研制和发展各自的先进仪器,各类数字式干涉仪的产品口径有Φ25mm~Φ600mm;进口以美国Zygo公司为代表的从口径4″~32″的各类干涉仪;Zygo公司以3D干涉显微镜为基本原理发展的非接触式表面轮廓仪,从早期的Maxim 3D 5700到现代最新的Zemapper System等;英国Tayloy-Hobson触针式轮廓仪;满足实际需求的三坐标测量仪、4D干涉仪等。
然而,在光学检测仪器和技术应用上,仍存在很多问题和不足。目前,尚未有关于离轴抛物面焦距快速检测的方法或装置。现有检测仪器,如Zygo干涉仪、牛顿干涉仪、4D干涉仪、Tayloy-Hobson等均无法直接检测离轴抛物面镜的焦距。
专利号为CN201420660109.3的专利文献,公开了一种“离轴抛物面镜焦距的检测装置”,具体如图1所示,这种检测装置虽然实现了直接检测到离轴抛物面镜的焦距的功能,但是其存在的问题是,在将补偿球通过三维调整架移动至离轴抛物面镜的焦点位置是,工作人员需要多次、反复的改变并且调整补偿球的实时位置直至干涉仪上显示的离轴抛物面镜的面型最小时,确定补偿球的位置,这一过程需要耗费大量的时间,严重影响了检测的效率;另外在测量环节,是通过三坐标测量机来实现焦距测量,不但操作比较麻烦,而且测量的精度难以保证。
发明内容
发明目的:为了克服现有技术中存在的不足,提供一种操作方便且测量精度高的改进型离轴抛物面镜焦距检测装置。
技术方案:为实现上述目的,本实用新型提供一种改进型离轴抛物面镜焦距检测装置,包括干涉仪、标准平面镜、补偿球、三维调整架、五维调整架、辅助圆柱和固定底板,还包括红外发射器和红外接收器,所述补偿球上位于纵向圆心轴处开设有轴向孔,测量刻度棒与轴向孔相匹配,所述测量刻度棒上设置有刻度线,所述测量刻度棒通过轴向孔用于测量实际焦距,所述红外发射器位于辅助圆柱的中心点,所述红外接收器配合在轴向孔顶端用于通过轴向孔接收红外发射器的红外信号。
进一步地,所述红外接收器连接着报警传感器,报警传感器能够第一时间发出报警声,使得工作人员能够及时停止对于补偿球的位置调整。
进一步地,所述轴向孔为长方形孔,所述测量刻度棒为与长方形孔相匹配的长方形棒,所述测量刻度棒的四边和轴向孔的内壁紧密贴合,长方形的结构设计使得测量刻度棒在轴向孔内的位置十分稳定,不会发生晃动或者转动的情况,保证测量精度。
进一步地,所述长方形的测量刻度棒的两边均开设有滑槽,所述轴向孔内设置有与滑槽相匹配的滑轨,不但使得测量刻度棒的位置稳定性更好,而且能够便于测量刻度棒更顺利的穿过轴向孔。
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