[实用新型]半导体激光器老化试验装置

说明书

本实用新型涉及半导体激光器技术领域，尤其是涉及一种半导体激光器老化试验装置。半导体激光器老化试验装置包括：气流罩、定位件、温度传感器、加热件和电路板；电路板设置在气流罩的开口端，定位件设置在气流罩的内部，加热件设置在定位件的远离电路板的一端，加热件远离定位件的一端用于安放被测器件，温度传感和加热件均与电路板电连接；温度传感器用于检测被测器件的温度信息，并将被测器件的温度信息传递给电路板，电路板根据被测器件的温度信息控制加热件的发热量，以使被测器件达到预设的温度。从而精确的控制被测器件试验时的温度。以缓解现有技术中存在无法针对每个被测器件的温度进行精确的监控的技术问题。

技术领域

本实用新型涉及半导体激光器技术领域，尤其是涉及一种半导体激光器老化试验装置。

背景技术

随着社会的发展和科技的不断进步，半导体激光器因具有体积小、重量轻、转换效率高、可靠性好等优点而广泛应用于光通信、信息存储、医疗、光传感以及泵浦固体激光器和光纤放大器等领域。在上述应用领域中，寿命是保障其应用的是一个决定性的因素，也是关系到能否能商品化的主要因素。

半导体激光器的最有效的寿命考核方法是进行电老化试验，就是在一定电流下观察器件在老化期间输出。半导体激光器的老化过程在一定程度上决定了产品的耐用性、可靠性，而老化所用到的老化器件就对产品起到关键性作用。由于半导体激光器在通电老化过程中存在发热问题，发热在一定程度上影响了整个半导体激光器的老化过程，如果老化过程中不能考虑激光器的自热问题，就会影响寿命考核试验结果，影响器件的使用。所以说半导体激光器的老化试验装置对激光器的寿命考核至关重要。

目前，通常利用烘箱或夹具进行半导激光器的老化试验，无法针对每个被测器件的温度进行精确的监控。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供的一种半导体激光器老化试验装置，以缓解现有技术中存在无法针对每个被测器件的温度进行精确的监控的技术问题。

本实用新型提供的一种半导体激光器老化试验装置，包括：气流罩、定位件、温度传感器、加热件和电路板；

所述电路板设置在所述气流罩的开口端，所述定位件设置在所述气流罩的内部，所述加热件设置在所述定位件的远离所述电路板的一端，所述加热件远离所述定位件的一端用于安放被测器件，所述温度传感和加热件均与所述电路板电连接；

所述温度传感器用于检测所述被测器件的温度信息，并将所述被测器件的温度信息传递给所述电路板，所述电路板根据所述被测器件的温度信息控制所述加热件的发热量，以使所述被测器件达到预设的温度。

进一步地，所述半导体激光器老化试验装置还包括导热件；

所述导热件设置在所述加热件和所述被测器件之间，所述导热件用于将所述加热件产生的热量均匀传递到所述被测器件上。

进一步地，所述导热件靠近所述被测器件的一端设置有第一凹槽，所述温度传感器设置在所述第一凹槽中。

进一步地，所述定位件的内侧设置有第二凹槽，所述第二凹槽用于容纳连接件，所述连接件用于将所述被测器件和所述电路板连接。

进一步地，所述导热件和所述连接件上分别设置有多个第一插针孔和多个第二插针孔，多个所述第一插针孔和多个所述第二插针孔一一对应设置，所述被测器件上的插针穿过所述第一插针孔和所述第二插针孔与所述电路板连接。

进一步地，所述气流罩的顶端设置有呈喇叭型的开口，沿所述气流罩远离所述电路板的方向，所述开口的直径逐渐减小。

进一步地，所述被测器件远离所述加热件的一端设置在所述开口内。

进一步地，所述气流罩的开口端设置有向外延伸的凸边，所述凸边上设置有安装孔，所述电路板上设置有与所述安装孔配合的通孔。