[实用新型]一种半导体ATE芯片测试机

说明书

本实用新型公开了一种半导体ATE芯片测试机，包括PC计算机和PXI机箱，PC计算机包含有若干PCle板卡、PCle×8电缆连接器，PCle板卡的输出端连接有PCle×8电缆连接器，PCle×8电缆连接器的输出端连接有若干PXle板卡，PXle板卡位于PXI机箱的内部。本实用新型中通过PXI机箱和各种板卡的组合，P1可以很容易地提供先进的数字、模拟或RF测试能力，基于PXI的开放体系结构，P1提供了灵活和可扩展的解决方案，可以被配置成PA，LNA，Switch，Filter的射频测试应用的测试需求范围，是半导体ATE芯片测试的理想解决方案。

技术领域

本实用新型涉及一种电子领域，特别涉及一种半导体ATE芯片测试机。

背景技术

集成电路中在电子学中是一种把电路(主要包括半导体装置，也包括被动元件等)小型化的方式，并通常制造在半导体晶圆表面上，而一般半导体 ATE芯片都需要进行测试后才能正常使用。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷，提供一种半导体 ATE芯片测试机，通过PXI机箱和各种板卡的组合，P1可以很容易地提供先进的数字、模拟或RF测试能力，基于PXI的开放体系结构，P1提供了灵活和可扩展的解决方案，可以被配置成PA，LNA，Switch，Filter的射频测试应用的测试需求范围，是半导体ATE芯片测试的理想解决方案。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了如下的技术方案：

本实用新型一种半导体ATE芯片测试机，包括PC计算机和PXI机箱，所述PC计算机包含有若干PCle板卡、PCle×8电缆连接器，所述PCle板卡的输出端连接有PCle×8电缆连接器，所述PCle×8电缆连接器的输出端连接有若干PXle板卡，所述PXle板卡位于PXI机箱的内部。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述若干PCle板卡和PXle板卡的数量均为2块。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述PXI机箱包含有PXIe卡槽。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述PC计算机的内部还包含有信号滤波器。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述PC计算机和PXI机箱上均安装有散热栅格条。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

本实用新型中通过PXI机箱和各种板卡的组合，P1可以很容易地提供先进的数字、模拟或RF测试能力，基于PXI的开放体系结构，P1提供了灵活和可扩展的解决方案，可以被配置成PA，LNA，Switch，Filter的射频测试应用的测试需求范围，是半导体ATE芯片测试的理想解决方案。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1是本实用新型的整体结构示意图；

图2是本实用新型的PXIe卡槽电路图之一；

图3是本实用新型的PXIe卡槽电路图之二；

图4是本实用新型的PXIe卡槽电路图之三；

图5是本实用新型的PXIe卡槽电路图之四；

图6是本实用新型的PXIe卡槽电路图之五；

图中：1、PC计算机；2、PCle板卡；3、PCle×8电缆连接器；4、PXle 板卡；5、信号滤波器；6、散热栅格条；7、PXI机箱。

具体实施方式