[实用新型]一种复合层式半导体级石英坩埚有效

专利信息
申请号: 201821804914.3 申请日: 2018-11-02
公开(公告)号: CN209098511U 公开(公告)日: 2019-07-12
发明(设计)人: 王建军;李常国;李杰;何玉鹏 申请(专利权)人: 宁夏富乐德石英材料有限公司
主分类号: C03C3/06 分类号: C03C3/06;C03B20/00
代理公司: 宁夏合天律师事务所 64103 代理人: 孙彦虎
地址: 750021 宁夏回*** 国省代码: 宁夏;64
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摘要:
搜索关键词: 石英坩埚 保护层 第一保护层 半导体级硅 第二保护层 半导体级 复合层式 微气泡层 微气泡 析晶 本实用新型 表面设置 结晶缺陷 依次设置 硅液面 抖动 硅液 拉晶 增高 破裂 阻碍 生产
【权利要求书】:

1.一种复合层式半导体级石英坩埚,其特征在于:包括石英坩埚本体、第一保护层、第二保护层、第三保护层、第四保护层,所述石英坩埚本体剖面呈U型设置,所述第一保护层设置于石英坩埚本体的内表面上,所述第二保护层设置于第一保护层的内表面上,所述第三保护层设置于第二保护层的内表面上,所述第四保护层设置于第三保护层的内表面上,所述第一保护层和所述第三保护层为微气泡层,所述第二保护层和所述第四保护层为真空透明层。

2.如权利要求1所述的一种复合层式半导体级石英坩埚,其特征在于:所述第一保护层厚度为8-10mm,所述第二保护层厚度为3-5mm,所述第三保护层厚度为0.1-1mm,所述第四保护层厚度为0.3-1mm。

3.如权利要求2所述的一种复合层式半导体级石英坩埚,其特征在于:所述第一保护层厚度为9mm,所述第二保护层厚度为4mm,所述第三保护层厚度为0.5mm,所述第四保护层厚度为0.5mm。

4.如权利要求1所述的一种复合层式半导体级石英坩埚,其特征在于:所述第一保护层所含微气泡为20-34个/mm3,所述第二保护层所含微气泡为3-8个/mm3,所述第三保护层所含微气泡为20-34个/mm3,所述第四保护层所含微气泡为3-8个/mm3

5.如权利要求4所述的一种复合层式半导体级石英坩埚,其特征在于:所述第一保护层和所述第三保护层所含微气泡孔径为0.1mm以下。

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