[实用新型]一种测试装置及具有其的测试系统有效

专利信息
申请号: 201821844271.5 申请日: 2018-11-09
公开(公告)号: CN209131951U 公开(公告)日: 2019-07-19
发明(设计)人: 李其林 申请(专利权)人: 大陆泰密克汽车系统(上海)有限公司
主分类号: G01M13/00 分类号: G01M13/00;B65G47/24;B65G47/74
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 汤国华
地址: 201815 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 测试装置 滑轨 测试机构 滑块 支架 本实用新型 测试系统 底座 可移动地安装 可滑动地 上下移动 生产效率 外力作用 支架固定 检测 节约 轨道 运输 生产
【说明书】:

实用新型提供一种测试装置及具有其的测试系统,其中,测试装置包括底座,滑轨,所述滑轨设置在所述底座上,所述滑轨上设有轨道,滑块,所述滑块可滑动地设置在所述滑轨上,支架,所述支架固定安装在所述滑块上,测试机构,所述测试机构上下可移动地安装在所述支架上,在外力作用下所述测试机构沿所述支架上下移动,并对工件进行检测。根据本实用新型实施例的测试装置能够实现工件在运输的过程中完成检测,节约了生产的时间,提高了生产效率。

技术领域

本实用新型涉及零部件测试技术领域,特别涉及一种测试装置及具有其的测试系统。

背景技术

测试装置是用于测试产品的尺寸或产品的缺陷,如,磁粉探伤是利用螺栓缺陷处的漏磁场与磁粉的相互作用,针对螺栓可能存在的缺陷(如裂纹,夹渣,混料等)磁导率和钢铁磁导率的差异,磁化后这些材料不连续处的磁场将发生畸变,形成部分磁通泄漏处工件表面产生了漏磁场,从而吸引磁粉形成缺陷处的磁粉堆积—磁痕,在适当的光照条件下,显现出缺陷位置和形状,对这些磁粉的堆积加以观察和解释,以达到剔除不良品的目的。

然而现有的测试装置每测试完一个工件的产品,再进行运输,进入下一道工序,这样工件运输的时间和检测的时间之和即为在一个工序上花费的时间,该方式的测试相对时间较长,效率较低,因此,需要一种装置能够解决此类问题。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型提供一种测试装置,该测试装置能够在工件运输的工程中完成工件的测试,节约了工件产品测试时间,提高了工作效率,节约了成本。

本实用新型还提供一种具有上述测试装置的测试系统。

为解决上述技术问题,本实用新型采用以下技术方案:

根据本实用新型第一方面实施例的测试装置,包括:

底座;

滑轨,所述滑轨设置在所述底座上,所述滑轨上设有轨道;

滑块,所述滑块可滑动地设置在所述滑轨上;支架,所述支架固定安装在所述滑块上;

测试机构,所述测试机构上下可移动地安装在所述支架上,在外力作用下所述测试机构沿所述支架上下移动,并对工件进行检测。

优选地,所述滑块上设有滑槽,所述滑块通过所述滑槽卡设在所述轨道上。

优选地,测试装置还包括载具,所述载具上设有容纳腔,所述容纳腔用于装载被测试工件,所述载具安装在所述支架上,且所述载具的容纳腔与所述测试机构的测试端相对设置。

优选地,测试装置还包括:

上定位机构,所述上定位机构安装在所述测试机构上且位于所述载具和所述测试机构之间,所述上定位机构的一端与所述载具的上方定位连接;

下定位机构,所述下定位机构设置在所述支架上并位于所述载具的下方,所述下定位机构的一端与所述载具的下方定位连接。

进一步地,所述载具上设有定位轴,所述定位轴的纵向贯穿所述载具的上下表面,所述上定位机构设有上凹槽,所述下定位机构的一端设有下凹槽,所述定位轴的一端安装在所述上凹槽内,另一端安装在所述下凹槽内。

优选地,测试装置还包括第一动力源,所述第一动力源安装在支架上并与所述测试机构相连,用于驱动所述测试机构和所述上定位机构相对所述支架上下滑动。

优选地,测试装置还包括第二动力源,所述第二动力源固定安装在所述支架上并与所述下定位机构相连,用于驱动所述下定位机构在所述支架上滑动。

优选地,所述支架形成为L型,所述L型支架上设有加强筋。

根据本实用新型第二方面实施例的测试系统包括根据上述实施例的至少一个测试装置;

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