[实用新型]一种芯片检测用升降装置

说明书

本实用新型公开了一种芯片检测用升降装置，包括升降装置机架、气缸、导向套管、导向柱、滑槽、滚珠、抬升板；升降装置机架为一个长方体外框，升降装置机架上端开口，升降装置机架中段前后侧各自设有一排滑槽；滑槽内排入滚珠；升降装置机架内侧底端中央位置设有气缸；气缸的气缸杆连接抬升板，抬升板在气缸杆的作用下在升降装置机架上端开口到滑槽所在平面之间的范围内升降；导向套管设置在升降装置机架内侧底端；导向柱设置在抬升板下表面；导向柱一端伸入导向套管内；升降装置机架前后垂直面位于滑槽下方开出第一通槽；升降装置机架左右垂直面位于滑槽上方开出第二通槽。本实用新型能够实现芯片自动抬升到检测工位。

技术领域

本实用新型涉及一种芯片检测用升降装置。

背景技术

现有的芯片检测采用流水线检测方式，检测过程中需要通过升降机构将运送到检测位置的被测芯片抬升到检测工位。在此过程中，往往是工人手动将被测芯片放到升降机构上，再由升降机构将被测芯片抬升到检测工位。采用该方式使得流水线工作不能在全自动的情况下进行，一定程度上影响效率，也增加了人工成本。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片检测用升降装置，旨在解决上述问题。

为了实现上述目的，本实用新型的技术方案是设计一种芯片检测用升降装置，包括升降装置机架、气缸、导向套管、导向柱、滑槽、滚珠、抬升板；所述升降装置机架为一个长方体外框，升降装置机架上端开口，升降装置机架中段前后侧各自设有一排滑槽；所述滑槽内排入滚珠；所述升降装置机架内侧底端中央位置设有气缸；所述气缸的气缸杆连接抬升板，抬升板在气缸杆的作用下在升降装置机架上端开口到滑槽所在平面之间的范围内升降；所述导向套管设置在升降装置机架内侧底端；所述导向柱设置在抬升板下表面；所述导向柱一端伸入导向套管内；所述升降装置机架前后垂直面位于滑槽下方开出第一通槽；所述升降装置机架左右垂直面位于滑槽上方开出第二通槽；所述第二通槽一侧高度与滑槽上表面相同，第二通槽另一侧高度略高于滑槽上表面，高出的部分形成挡块；所述抬升板升起到最高位置时，抬升板上表面高度低于升降装置机架一侧的侧壁高度，升降装置机架另一侧侧壁高度与最高位置时的抬升板上表面高度一致，即在这一侧升降装置机架侧壁上形成缺口。

使用时，被测芯片从没有设有挡块的第二通槽处进入升降装置机架内，在芯片两侧在滚珠上滑动，最终芯片位于抬升板上；气缸上升，推动抬升板上升，导向柱在导向套管中移动，起到导向的作用。待抬升板上升至最高位置时即达到了检测工位，等完成对芯片的检测后，被测完毕的芯片从升降装置机架侧壁的缺口出移出。然后气缸杆回缩，抬升板回到原位。第一通槽的作用是便于对气缸的维修和更换。

本实用新型的优点和有益效果在于：本实用新型一种芯片检测用升降装置能够实现芯片自动抬升到检测工位，有效提高了检测效率。

附图说明

图1为本实用新型前端观测示意图。

图2为本实用新型侧面观测示意图（抬升板位于起始位置）。

图3为本实用新型侧面观测示意图（抬升板位于最高位置）。

图4为本实用新型前端观测剖开示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案，而不能以此来限制本实用新型的保护范围。

实施例：