[实用新型]用于电子设备的老化测试装置

说明书

本实用新型公开了一种用于电子设备的老化测试装置，包括：箱体、测试装置和开关件，箱体内具有放置空间，箱体上设有与放置空间相连通的取放口，箱体上设有用于观察放置空间内部情况的观察窗口，测试装置和电子设备均设在放置空间内，电子设备与测试装置电连接，开关件可活动地设在箱体上以打开或关闭取放口。根据本实用新型的老化测试装置，老化测试装置形成为箱体式结构，结构简单、密封性能好，可以降低电子设备在进行老化测试的工作噪声。而且，老化测试装置可以灵活地分布在生产线上，从而可以方便电子设备的取放，降低物流成本，还可以通过观察窗口观察电子设备的老化测试情况，操作比较方便。

技术领域

本实用新型涉及电子测试设备领域，尤其是涉及一种用于电子设备的老化测试装置。

背景技术

在相关技术中，电子设备在出厂之前需要对其进行老化测试以检测电子设备的使用性能。当电子设备进行老化测试时，将多个电子设备集中放置在老化架上。由于老化架设在专用的隔离式老化房内，电子设备需要远距离搬运，从而延长了电子设备的产品周转和生产周期，影响出货时间。而且，老化架上的电子设备集中放置，影响质检人员的抽样的随机性，从而降低了不良品的拦截范围。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型的一个目的在于提出了一种用于电子设备的老化测试装置，所述老化测试装置具有使用灵活性高、操作方便的优点。

根据本实用新型实施例的用于电子设备的老化测试装置，包括：箱体，所述箱体内具有放置空间，所述箱体上设有与所述放置空间相连通的取放口，所述箱体上设有用于观察所述放置空间内部情况的观察窗口；测试装置，所述测试装置和所述电子设备均设在所述放置空间内，所述电子设备与所述测试装置电连接；开关件，所述开关件可活动地设在所述箱体上以打开或关闭所述取放口。

根据本实用新型实施例的老化测试装置，老化测试装置形成为箱体式结构，结构简单、密封性能好，可以降低电子设备在进行老化测试的工作噪声。而且，老化测试装置可以灵活地分布在生产线上，从而可以方便电子设备的取放，降低物流成本，还可以通过观察窗口观察电子设备的老化测试情况，操作比较方便。

根据本实用新型的一些实施例，所述开关件与所述箱体枢转相连。

根据本实用新型的一些实施例，所述开关件形成为抽拉件，所述抽拉件与所述箱体滑动配合，所述电子设备放置在所述抽拉件内。

在本实用新型的一些实施例中，所述抽拉件上设有在其滑动路径上延伸的第一滑轨，所述箱体上设有与所述第一滑轨滑动配合的第二滑轨。

根据本实用新型的一些实施例，所述箱体包括多个呈阶梯状分布的子箱体，每个所述子箱体内均设有所述放置空间和所述观察窗口，每个所述子箱体上设有所述开关件。

在本实用新型的一些实施例中，多个所述子箱体为一体成型件。

根据本实用新型的一些实施例，所述箱体上设有多个间隔分布的散热孔，所述散热孔在所述箱体的厚度方向上贯穿所述箱体。

在本实用新型的一些实施例中，所述老化测试装置还包括：散热风扇，所述散热风扇设在所述箱体内。

根据本实用新型的一些实施例，所述老化测试装置还包括：用于承载所述箱体移动的滚轮，所述滚轮设在所述箱体的底部。

根据本实用新型的一些实施例，所述老化测试装置还包括：承载座，所述承载座设在所述放置空间内，所述承载座具有多个间隔分布的放置槽，所述电子设备放置在所述放置槽内。

根据本实用新型的一些实施例，所述老化测试装置还包括：监控装置，所述监控装置与所述电子设备通信相连以监控所述电子设备的测试状态，当所述电子设备在测试过程中出现故障时，所述监控装置发出报警信号。