[实用新型]一种FR-4材料测试板结构

说明书

本实用新型公开了一种FR‑4材料测试板结构，包括测试板本体，所述测试板本体的一端固定有卡扣，所述测试板本体远离所述卡扣的一端固定有合页，所述合页远离所述测试板本体的一端固定有防尘网，所述防尘网远离所述合页的一端固定有卡套，所述测试板本体的后表面固定有石墨散热板；在测试板本体在使用时，把防尘网在合页的配合下往测试板本体方向转动，然后使卡扣嵌入到卡套内对防尘网进行固定，保证测试板本体的正常使用，防尘网可以减小测试板本体表面落入灰尘，通过测试板本体后表面安装的石墨散热板，可将测试板本体电子元件工作产生的热量进行吸收，使电子元件的温度降低，便于测试板本体的正常工作和使用寿命的延长。

技术领域

本实用新型属于测试板技术领域，具体涉及一种FR-4材料测试板结构。

背景技术

在芯片封装完成之后，通常会对芯片进行相应的性能测试，现有的测试板在使用过程中，

1、没有更好的防尘效果，经常在使用一段时间后，测试板的表面会落入一层灰尘，落入的灰尘可能会产生静电，导致内部器件的损坏；

2、测试板没有更好的散热效果，在使用过程中影响正常使用。

实用新型内容

为解决上述背景技术中提出的问题。本实用新型提供了一种FR-4材料测试板结构，具有防尘和便于散热的特点。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种FR-4材料测试板结构，包括测试板本体，所述测试板本体的一端固定有卡扣，所述测试板本体远离所述卡扣的一端固定有合页，所述合页远离所述测试板本体的一端固定有防尘网，所述防尘网远离所述合页的一端固定有卡套，所述测试板本体的后表面固定有石墨散热板。

为了使测试板本体与外壳进行固定，作为本实用新型的优选技术方案，所述测试板本体的内部固定有固定孔。

为了使测试板本体对卡扣进行支撑，避免防尘网接触到测试板本体内部的器件，作为本实用新型的优选技术方案，所述卡扣与所述测试板本体的连接处固定有第一支撑板。

为了防尘网在使用过程中保持平衡性，作为本实用新型的优选技术方案，所述测试板本体与所述合页的连接处固定有第二支撑板。

为了使石墨散热板更好的进行散热工作，作为本实用新型的优选技术方案，所述石墨散热板的内部固定有凹槽。

为了方便工作人员对防尘网进行固定，作为本实用新型的优选技术方案，所述卡扣和所述卡套为子母扣构件。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型的测试板本体能够进一步的达到防尘效果，减小灰尘落入测试板本体的表面上，保证测试板本体能够正常的使用；

2、本实用新型的测试板本体能够更好的散热，避免在长时间使用过程中因散热不充分，而影响使用的情况。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的防尘网连接结构示意图；

图3为本实用新型的测试板本体底部结构示意图；

图中：1、测试板本体；2、卡扣；3、固定孔；4、防尘网；5、卡套；6、合页；7、第一支撑板；8、第二支撑板；9、石墨散热板；10、凹槽。

具体实施方式