[实用新型]一种晶棒旋转检测台

说明书

一种晶棒旋转检测台，包括检测台面，检测台面上设有滚动滚筒和检测装置，滚动滚筒包括第一滚筒和第二滚筒，第一滚筒与第二滚筒平行分布。检测台面底部通过旋转装置连接升降装置，升降装置底部设有万向轮。本实用新型的有益效果是：将晶棒放到检测台面上的两根滚动滚筒之间，方便晶棒滚动测量，减少晶棒在外观检测和长度检测的过程中的搬运周转，检测台面底部设有旋转装置，旋转装置可水平旋转检测台面，在晶棒端面的测量过程中，减少晶棒直立与晶棒翻转的搬运周转，从而减轻工作人员的劳动量，减少了工作人员在晶棒搬运过程中带来的身体扭伤风险，缩短了作业时间，降低了人工成本。

技术领域

本实用新型属于机械结构技术领域，尤其是涉及一种晶棒旋转检测台。

背景技术

晶棒，一般通过直拉单晶的方式生成，形成圆柱形棒体。圆柱形晶棒通过切割，断成所需尺寸，方便检测、运输，晶棒检测合格后，方可投入使用。

目前，晶棒的检测方法以人工检测为主。即：通过检验员将晶棒搬运到电子称上，测量晶棒重量。称重后，将晶棒旋转一周后，检测晶棒外观崩损情况，并测量晶棒长度。然后将晶棒直立后，检测晶棒端面的电参数，再将晶棒翻转180度，检测晶棒另一端面的电参数。

通过上述方法检测晶棒，需对晶棒进行多次周转搬运，费时费力，且在晶棒搬运过程中，容易对晶棒外表面进行磕碰崩损，造成不必要的浪费，多次移动晶棒，容易对晶棒造成不必要的污染，影响晶棒的使用效果。

也可以使用大型检测设备对晶棒的上述技术参数进行检测，大型检测设备结构复杂，占地面积大，生产成本高，应用范围小，不适合推广应用。

实用新型内容

本实用新型要解决的问题是提供一种检测台；尤其是结构简单，可旋转、可升降，避免多次搬运周转且生产成本低，适用于晶棒的一种晶棒旋转检测台。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种晶棒旋转检测台，包括检测台面，所述检测台面上设有滚动滚筒和检测装置，所述滚动滚筒包括第一滚筒和第二滚筒，所述第一滚筒与所述第二滚筒平行分布，所述检测台面底部通过旋转装置连接升降装置，所述升降装置包括顶架和底架，所述顶架与所述底架均为方形框，所述顶架两条平行边一端部对应设有第一条形槽，所述顶架两条平行边另一端部对应设有第一连接孔，所述底架两条平行边一端部对应设有第二条形槽，所述底架两条平行边另一端部对应设有第二连接孔，所述连接架包括X机构，所述X机构包括两组平行对应分布的X形杆和中部连接杆，所述中部连接杆两端分别连接两组X形杆中部，所述两组X形杆顶部两端分别连接第一条形槽和第一连接孔，所述两组X形杆底部两端分别连接第二条形槽和第二连接孔，所述底架底部设有万向轮。

进一步的，所述滚动滚筒包括滚筒轴和筒体，所述筒体置于所述滚筒轴外表面中心处，所述滚筒轴与所述筒体同轴心，所述滚筒轴两端长于所述筒体。

进一步的，所述检测台面上设有连接板，所述连接板与所述检测台面垂直分布，所述连接板上设有连接孔，所述滚筒轴置于所述连接孔内，所述连接板分别置于所述滚动滚筒两端。

进一步的，所述连接孔内设有轴承，所述滚筒轴置于所述轴承内。

进一步的，所述X机构为多组，所述X机构之间通过两侧连接杆连接，所述两侧连接杆两端分别连接两组所述X形杆的顶部和所述X形杆的底部，所述两侧连接杆与所述中部连接杆平行分布，所述两侧连接杆中部设有螺纹孔，所述螺纹孔与丝杠配合连接，所述丝杠连接驱动机构。

进一步的，所述顶架上设有顶板，所述顶板上表面设有第一凹槽，所述检测台面底部设有第二凹槽，所述旋转装置包括旋转轴，所述凹槽内设有轴承，所述旋转轴置于所述轴承内。

进一步的，所述万向轮包括支架、滚轮、支架座和刹车装置，所述滚轮安装在所述支架上，所述支架安装在所述支架座上，所述支架座上设有刹车装置，所述支架座连接所述底架。