[实用新型]一种刀型探针

说明书

本实用新型公开了一种刀型探针，包括固定板，所述固定板上表面左侧安装有探针柄，所述探针柄内右侧开设有电容腔，所述电容腔内置有夹持块且夹持块与电容腔滑动连接，所述夹持块右侧安装有密封盖，所述夹持块内中部安装有电容，所述探针柄靠近电容腔的左侧开设有L型线槽。本实用新型通过夹持块与电容腔滑动连接，使卡杆与卡槽分离，向外侧拉动密封盖，密封盖带动夹持块上的电容向外侧运动，使电容处于活动连接状态，便于更换和保养电容，防止固定置于探针柄内，更换和保养时，需将探针柄与固定板的焊接层拆开，需焊接操作重新组装，费时费力，更换和保养电容成本大，较为实用，适合广泛推广与使用。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测装置技术领域，具体为一种刀型探针。

背景技术

目前，刀型探针广泛应用于晶圆测试及芯片检测领域，用以筛选出不良品以避免不良品继续加工造成浪费。传统刀型探针包括探针、金属刀架和印刷线路板，印刷线路上设置有用于处理信号的电容，金属刀架一端与探针连接，另一端与印刷线路板上的电容连接，测试信号经电容处理后通过印刷线路板传输至测试机，测试时调整好探针的针尖位置即可进行测试，测试操作简单方便。

现有的刀型探针，还存在着一些不足的地方，例如：测试实践中，刀型探针的电容部位最为薄弱，电容为固定置于探针柄内，导致无法对其保养维护，易损坏且损坏的电容无法对其跟换，需要拆卸探针柄，由于探针柄与固定板为焊接，返厂时间过久，重新焊接需要特有的焊接技术，导致成本较高，大多将其丢弃，增加测试成本、电容在探针长时间测试时，易发热，电容为密封置于探针柄内，散热不及时受热损伤和由于探针为尖锐危险品且容易损坏磨损，探针固定安装在探针柄上自相矛盾，在使用时，稍有不慎，常出现与物品间发生碰撞磨损和刺伤使用者现象，探针的收纳和取出便捷性至关重要等等问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种刀型探针，通过夹持块与电容腔滑动连接，使卡杆与卡槽分离，向外侧拉动密封盖，密封盖带动夹持块上的电容向外侧运动，使电容处于活动连接状态，便于更换和保养电容，防止探针固定置于探针柄内，更换和保养时，需将探针柄与固定板的焊接层拆开，需焊接操作重新组装，费时费力，更换和保养电容成本大，解决了背景技术中所提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种刀型探针，包括固定板，所述固定板上表面左侧安装有探针柄，所述探针柄内右侧开设有电容腔，所述电容腔内置有夹持块且夹持块与电容腔滑动连接，所述夹持块右侧安装有密封盖，所述夹持块内中部安装有电容，所述探针柄靠近电容腔的左侧开设有L型线槽，所述L型线槽远离电容腔的一端连通有储线腔，所述电容左侧安装有连接线a一端，所述连接线a贯穿L型线槽和储线腔中部且连接线a左侧末端安装有探针，所述电容右侧安装有连接线b一端，所述连接线b贯穿硅胶散热片内中部且连接线b右侧末端安装有测试机构。

作为本实用新型的一种优选实施方式，所述密封盖顶部安装有卡杆，所述卡杆卡接在卡槽内，所述卡槽位于探针柄内右侧顶部。

作为本实用新型的一种优选实施方式，所述电容右侧安装有硅胶散热片，所述硅胶散热片贯穿密封盖内中部且硅胶散热片右端置于密封盖外侧。

作为本实用新型的一种优选实施方式，所述探针柄右侧底部安装有储纳板，所述储纳板内开设有储针槽，所述储针槽左侧内壁与探针连接处安装有阻尼转轴。

作为本实用新型的一种优选实施方式，所述固定板上表面左侧与探针柄连接处安装有焊料层且探针柄通过焊料层焊接在固定板上表面。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1.本实用新型一种刀型探针，通过夹持块与电容腔滑动连接，使卡杆与卡槽分离，向外侧拉动密封盖，密封盖带动夹持块上的电容向外侧运动，使电容处于活动连接状态，便于更换和保养电容，防止探针固定置于探针柄内，更换和保养时，需将探针柄与固定板的焊接层拆开，需焊接操作重新组装，费时费力，更换和保养电容成本大。