[实用新型]一种测量单晶端面垂直度的夹具

说明书

本实用新型提供一种测量单晶端面垂直度的夹具，包括测量部一、测量部二和测量部三，测量部一与测量部二相互平行设置，测量部一与测量部三垂直连接，测量部二与测量部三垂直连接，测量部一设有测量孔一，测量部二设有测量孔二，测量部三设有测量孔三。本实用新型的有益效果是结构简单，制作方便，且制作成本低，使用方便，便于对单晶端面的垂直度及单晶拼缝时的端面的垂直度，便于线切过程中甩厚片处理，减少单晶切割过程中单晶的损失。

技术领域

本实用新型属于直拉单晶设备技术领域，尤其是涉及一种测量单晶端面垂直度的夹具。

背景技术

目前光伏硅片主要源于多线切割制成，从拉晶整棒进行分段线切割，在切割过程中由于金刚线线据的摆动会产生断面部平整情况，在硅片切割前准备时由于误差1～2mm肉眼无法直接识别，准备过程中如果没有测底将厚片甩出，会导致卷线、断线异常，浪费钢线、浪费单晶、浪费工时。

发明内容

鉴于上述问题，本实用新型要解决的问题是提供一种测量单晶端面垂直度的夹具，尤其适合测量单晶端面的垂直度，保证单晶端面的垂直度及单晶拼接时端面的垂直度，便于线切过程中甩厚片处理，减少单晶切割时的损失。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种测量单晶端面垂直度的夹具，包括测量部一、测量部二和测量部三，测量部一与测量部二相互平行设置，测量部一与测量部三垂直连接，测量部二与测量部三垂直连接，测量部一设有测量孔一，测量部二设有测量孔二，测量部三设有测量孔三。

进一步的，测量孔一、测量孔二与测量孔三位于同一平面上。

进一步的，测量孔一与测量孔二相互平行，且测量孔一与测量孔二在竖直平面的投影重合。

进一步的，测量孔三与测量孔一垂直设置。

进一步的，测量孔一的宽度最大值为5mm。

进一步的，测量孔二的宽度最大值为5mm。

进一步的，测量孔三的宽度最大值为5mm。

进一步的，测量孔一的长度与测量孔二的长度均与单晶的高度相适应。

进一步的，测量孔三的长度与单晶的宽度相适应。

本实用新型具有的优点和积极效果是：

1.由于采用上述技术方案，使得该便于测量当端面垂直度的夹具结构简单，制作方便，且制作成本低，使用方便，便于对单晶端面的垂直度及单晶拼缝时的端面的垂直度，便于线切过程中甩厚片处理，减少单晶切割过程中单晶的损失；

2.该便于测量当端面垂直度的夹具上测量孔一、测量孔二和测量孔三的设置，便于线切主操及粘棒主操间接、直接的测量单晶端面，便于操作，减少晶片加工过程中由于测量误差、及人为眼观失误导致的单晶损失。

附图说明

图1是本实用新型的一实施例的结构示意图；

图2是本实用新型的一实施例的俯视图；

图3是本实用新型的一实施例的夹具测量单晶端面垂直度的示意图；

图4是本实用新型的一实施例的夹具测量单晶拼缝垂直度的示意图。

图中：

1、测量部一 2、测量部三 3、测量部二

4、测量孔二 5、测量孔一 6、测量孔三

7、拼缝 8、单晶

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的说明。