[实用新型]一种陀螺光电检测电路

说明书

本实用新型提供一种陀螺光电检测电路，包括控制器、运算放大器、第一电子开关、第二电子开关、光电二极管P1、第一电阻R1；所述第一电阻R1一端与光电二极管P1的负极连接，另一端连接有供电电压端，所述供电电压端的电压值为负值；运算放大器的反相输入端接地，还包括与第二电子开关相互并联的第一电容C1；第一电子开关的一个连接端、另一个连接端分别与光电二极管P1的正极、运算放大器的同相输入端连接；第二电子开关的一个连接端、另一个连接端分别与运算放大器的输出端、同相输入端连接；第一电子开关的控制端、第二电子开关的控制端分别与控制器的输出端连接。

技术领域

本实用新型具体涉及光纤陀螺光电检测电路的改进，属于光纤陀螺的测试、标定、误差补偿领域。

背景技术

光纤陀螺中，把干涉信号转换电信号的过程很大程度上影响着光纤陀螺的信号检测精度。在现有的光纤陀螺检测电路设计方案中，通常采用光电探测器组件来实现。光电探测器组件主要由两部分组成，一部分是PIN光电二极管，另一部分是FET前置电路。PIN光电二极管具有暗电流小、灵敏度高、响应波长范围宽等优点，FET前置放大电路具有高阻抗，能够与PIN光电二极管形成较好的匹配，有利于减小外部干扰和杂散电容等。但是，现有光电探测组件中，一般在运算放大器的输入端与输出端之间设置有跨接的电阻(跨阻)。光电探测组件的性能直接与其跨阻相关，跨阻通常为10³～10 ⁶Ω，由于电阻热噪声功率谱密度直接与电阻值大小成正比，因此跨阻会引入较大的热噪声，因此现有具有跨阻的陀螺光电检测电路受到热噪声的影响较大，从而对高精度光纤陀螺性能造成了很多大影响，无法满足惯性测量的要求。

实用新型内容

本实用新型要解决的问题是针对提供光电探测组件的中跨阻会引入较大的热噪声的问题，提供一种陀螺光电检测电路。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种陀螺光电检测电路，包括控制器、运算放大器、第一电子开关、第二电子开关、光电二极管P1、第一电阻R1；所述第一电阻R1一端与光电二极管P1的负极连接，另一端连接有供电电压端，所述供电电压端的电压值为负值；所述运算放大器的反相输入端接地，还包括与所述第二电子开关相互并联的第一电容C1；所述第一电子开关的一个连接端、另一个连接端分别与光电二极管P1的正极、所述运算放大器的同相输入端连接；所述第二电子开关的一个连接端、另一个连接端分别与运算放大器的输出端、同相输入端连接；所述第一电子开关的控制端、第二电子开关的控制端分别与控制器的输出端连接。

进一步地，所述第一电子开关的的另一个连接端、所述第二电子开关的控制端分别连接有上拉电阻。

进一步地，还包括第二电容C2，所述第二电容C2的一端与所述光电二极管P1的正极连接，所述第二电容C2的另一端接地。

进一步地，还包括与所述运算放大器的输出端连接的第一滤波电路。

进一步地，所述第一滤波电路为RC滤波电路。

进一步地，所述第一滤波电路包括第三电阻R3、第四电阻R4、第三电容C3、第四电容C4；所述运算放大器的输出端依次通过第三电阻R3、第三电容C3与陀螺光电检测电路的输出端连接；所述第四电容C4的一端连接在第三电阻R3与第三电容C3之间，所述第四电容C4的另一端接地；所述第四电阻R4的一端连接在第三电容C3与陀螺光电检测电路的输出端之间，所述第四电阻R4的另一端接地。

进一步地，所述第一电子开关的输出端与运算放大器的同相输入端之间连接有第二电阻R2。

进一步地，所述运算放大器为仪表用运算放大器。

进一步地，所述第一电子开关、第二电子开关集成在开关芯片中。

进一步地，所述开关芯片为DG612ADQ，所述运算放大器的型号为AD8066。