[实用新型]一种定位器的老化测试装置及系统有效
| 申请号： | 201821911635.7 | 申请日： | 2018-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN209247915U | 公开（公告）日： | 2019-08-13 |
| 发明（设计）人： | 葛文韬;黄小峰 | 申请（专利权）人： | 深圳市泰比特科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人： | 胡玉 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海街道科*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 继电器单元 定位器 可调电阻单元 老化测试装置 定时器模块 测试 本实用新型 定位器设备 电源模块 继电器 硬件电路实现 自动化测试 测试效率 电压跳变 可调电阻 老化测试 外围电容 开关机 工作量 | ||
1.一种定位器的老化测试装置，其特征在于，包括：电源模块、定时器模块、可调电阻单元和继电器单元，所述电源模块分别与所述定时器模块和继电器单元相连接，所述定时器模块分别与所述可调电阻单元和继电器单元相连接，所述继电器单元连接至需要进行老化测试的定位器设备。
2.根据权利要求1所述的定位器的老化测试装置，其特征在于，还包括继电器开关单元，所述定时器模块通过所述继电器开关单元连接至所述继电器单元。
3.根据权利要求2所述的定位器的老化测试装置，其特征在于，所述继电器开关单元包括电阻R3、电阻R4和三极管Q1，所述电阻R3的一端连接至所述定时器模块的输出端，所述电阻R3的另一端分别与所述电阻R4的一端和三极管Q1的基极相连接，所述电阻R4的另一端接地，所述三极管Q1的发射极接地，所述三极管Q1的集电极连接至所述继电器单元的使能端。
4.根据权利要求2或3所述的定位器的老化测试装置，其特征在于，所述电源模块包括第一电源单元和第二电源单元，所述继电器单元包括第一继电器和第二继电器，所述第一电源单元通过第一继电器连接至所述继电器开关单元，所述第二电源单元通过第二继电器连接至所述继电器开关单元。
5.根据权利要求4所述的定位器的老化测试装置，其特征在于，所述第一电源单元包括电容C3，所述电容C3的一端连接至所述第一继电器的输入端，所述电容C3的另一端接地。
6.根据权利要求4所述的定位器的老化测试装置，其特征在于，所述电源模块还包括电源接口J1，所述第一电源单元和第二电源单元分别通过电源接口J1连接至输入电源端。
7.根据权利要求1至3任意一项所述的定位器的老化测试装置，其特征在于，所述定时器模块包括555定时器芯片U1和电容C2，所述555定时器芯片U1的控制电压管脚通过电容C2接地。
8.根据权利要求7所述的定位器的老化测试装置，其特征在于，所述可调电阻单元包括可调电阻R1和可调电阻R2，所述可调电阻R1的一端连接至所述555定时器芯片U1的电源管脚，所述可调电阻R1的中间引脚和可调电阻R2的一端均连接至所述555定时器芯片U1的放电管脚，所述可调电阻R2的中间引脚分别与所述555定时器芯片U1的触发管脚和门限管脚相连接。
9.根据权利要求8所述的定位器的老化测试装置，其特征在于，所述可调电阻单元还包括电容C1，所述可调电阻R2的中间引脚通过电容C1接地。
10.一种定位器的老化测试系统，其特征在于，包括了如权利要求1至9任意一项所述的定位器的老化测试装置。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市泰比特科技有限公司，未经深圳市泰比特科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201821911635.7/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种智能卡兼容性自动检测装置
- 下一篇：基于FPGA芯片的通用I/O测试装置
