[实用新型]一种漏斗形单纳米颗粒种类检测装置有效
| 申请号： | 201821914257.8 | 申请日： | 2018-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN209656611U | 公开（公告）日： | 2019-11-19 |
| 发明（设计）人： | 黄志维;葛鉴;邓鲁豫;吉祥;周腾;史留勇;袁成宇;张先满 | 申请（专利权）人： | 海南大学 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00;B01L3/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 570228 海南省*** | 国省代码： | 海南;46 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电极 检测通道 漏斗形入口通道 矩形出口 接零 种类检测装置 本实用新型 单纳米颗粒 外接电源 电流表 漏斗形 正电压 电流表电流 复杂结构 芯片领域 种类检测 组合连接 变化量 纳流体 流控 串联 检测 | ||
1.一种漏斗形单纳米颗粒种类检测装置，其特征在于，包括接正电压的电极（1）、漏斗形入口通道（2）、直检测通道（3）、矩形出口通道（4）、接零电压的电极（5）、电流表（7）、外接电源（6）；所述装置接正电压的电极（1）与漏斗形入口通道（2）相连、漏斗形入口通道（2）与直检测通道（3）相连、直检测通道（3）与矩形出口通道（4）相连、矩形出口通道（4）与接零电压的电极（5）相连、接零电压的电极（5）与电流表（7）串联后接外接电源（6），上述结构依次顺次组合连接。
2.根据权利要求1所述的漏斗形单纳米颗粒种类检测装置，其特征在于，所述的漏斗形单纳米颗粒种类检测装置总长度为95μm，总宽度为50μm；漏斗形入口通道（2）上半部分长度L1为23μm、直检测通道（3）长度L2为20μm、矩形出口通道（4）长度L3为37μm；矩形出口通道（4）中长度W1为22μm；漏斗形入口通道（2）出口端连接直检测通道（3）入口端，在两连接处进行倒圆角处理；直检测通道（3）出口端连接矩形出口通道（4）入口端，在两连接处进行倒圆角处理。
3.根据权利要求1所述的漏斗形单纳米颗粒种类检测装置，其特征在于，所述的漏斗形入口通道（2）上半部为矩形，同时左右对称内壁不带有表面电荷的结构；下半部为倒梯形结构，左右对称内壁带有表面电荷。
4.根据权利要求2所述的漏斗形单纳米颗粒种类检测装置，其特征在于，漏斗形入口通道（2）入口端处有一个接正电压的电极（1）；矩形出口通道（4）出口端处有一个接零电压的电极（5）。
5.根据权利要求1所述的漏斗形单纳米颗粒种类检测装置，其特征在于，所述的一个直检测通道（3）为一个内壁不带有表面电荷的矩形结构。
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