[实用新型]一种基于3D探头阵列的紧缩场天线测试装置

权利要求书

1.一种基于3D探头阵列的紧缩场天线测试装置，包括：被测天线(5)、用于放置被测天线(5)的多轴天线测试转台(6)；其特征在于，所述紧缩场天线测试装置还包括：波束赋形网络模块(2)、3D阵列探头(3)、阵列极化旋转台(4)；

所述波束赋形网络模块(2)与所述3D阵列探头(3)的每个探头连接以控制阵元信号的分离或合成以及控制各个阵元信道的复杂加权；所述3D阵列探头(3)设置在所述阵列极化旋转台(4)上；所述3D阵列探头(3)与所述被测天线(5)相对设置；所述3D阵列探头(3)包括多个宽频带阵元天线，所述多个宽频带阵元天线具有间隔的分布在3D曲面上。

2.根据权利要求1中所述的一种基于3D探头阵列的紧缩场天线测试装置，其特征在于：所述3D曲面包括：球面、柱面、抛物面。

3.根据权利要求1中所述的一种基于3D探头阵列的紧缩场天线测试装置，其特征在于：所述3D阵列探头(3)设置在所述被测天线(5)的一侧或上方或下方。

4.根据权利要求1中所述的一种基于3D探头阵列的紧缩场天线测试装置，其特征在于：所述3D阵列探头(3)中探头的极化方式包括单极化和双极化；单极化3D阵列探头，所述波束赋形网络模块(2)及3D阵列探头(3)位于所述阵列极化旋转台(4)上，所述阵列极化旋转台包括一个旋转轴。

5.根据权利要求1中所述的一种基于3D探头阵列的紧缩场天线测试装置，其特征在于：所述波束赋形网络模块(2)包括：衰减器、移相器、功率分配合成网络、控制接口、供电接口、极化切换单元。

6.根据权利要求1中所述的一种基于3D探头阵列的紧缩场天线测试装置，其特征在于，紧缩场天线测试装置还包括：计算机(1)、控制模块(7)、测试仪表(8)和射频单元(9)；计算机(1)包括PC机或者工控电脑，通过GPIB或者USB标准接口与测试仪表(8)和控制模块(7)相连，测试仪表(8)通过射频接口与波束赋形网络模块(2)、被测天线(5)相连。

7.根据权利要求6中所述的一种基于3D探头阵列的紧缩场天线测试装置，其特征在于：所述测试仪表(8)包括：网络分析仪、示波器、频谱仪、矢量信号发生器、矢量信号分析仪；所述控制模块(7)包括转台控制器单元，转台驱动单元，射频放大器，仪表切换单元等。

8.根据权利要求1中所述的一种基于3D探头阵列的紧缩场天线测试装置，其特征在于：所述基于3D阵列探头的紧缩场天线测试装置放置于含有吸波材料的微波暗室内。

9.根据权利要求6中所述的一种基于3D探头阵列的紧缩场天线测试装置，其特征在于：所述多轴天线测试转台(6)与所述控制模块(7)连接并由所述控制模块控制，多轴天线测试转台包括：方位旋转轴，平移轴，极化旋转轴，滚动转轴，所述多轴天线测试转台包括上述四种转轴其中的一种或任意转轴的组合；多轴天线测试转台各轴设有异常触发开关以实现中断异常转动，避免设备损坏。

10.根据权利要求1-9中任一所述的一种基于3D探头阵列的紧缩场天线测试装置，其特征在于：通过对阵列各单元的幅度和相位进行优化加权，使各振元辐射的球面波互相叠加合成平面波，即在指定的区域内产生测试所需的平面波，从而实现有限物理空间内的远场测试；可用于测量带射频端口或者不带射频端口的被测件，例如适用于基站天线的无源和有源空口OTA测试；与传统金属反射面具有相同测试精度和静区质量，拥有比普通平面阵列天线紧缩场更大的静区面积以及更高的静区质量；并且有效地降低测试场成本以及后期维护成本。