[实用新型]一种V型单纳米颗粒多种类检测装置

说明书

本实用新型属于纳米流控芯片领域，具体公开了一种V型单纳米颗粒多种类检测装置，包括接正电压的电极、V型入口通道、矩形挡块、直检测通道、矩形出口通道、接零电压的电极、电流表、外接电源；矩形挡块位于V型入口通道里面；该装置接正电压的电极与V型入口通道相连，V型入口通道分别与第一直检测通道、第二直检测通道、第三直检测通道相连。本实用新型的优势在于：V型单纳米颗粒多种类检测装置结构尺寸小，没有复杂的纳流体通道结构，单个待检测颗粒流过直径直检测通道时，读取出对应电流表电流量来确认通过颗粒种类，在同一次检测中可以检测颗粒大小分布不均的多种类颗粒。

技术领域

本实用新型属于微流体领域，涉及一种具有新型结构的V型单纳米颗粒多种类检测装置。

背景技术

以微流控技术为依托的微流控芯片以其结构小、材料与加工成本低、多功能化、等特点成为现多跨学科热门研究领域，微流控技术已成功应用于机械电子工程、生物医学、化学物理等多个领域。

纳米颗粒具体是指几何范围在一百纳米以下的都叫纳米颗粒。现如今分析单纳米颗粒主要是通过激光粒度测试仪提供粒度，尺寸分布，体积分布，强度分布等报告多种数据。但需求待检测纳米颗粒的粒径分布集中，当出现粒径分布不集中的时候这种激光粒度测试仪得出的数据可靠性相对较低。同时在检测前期需要经过标签化处理后再能检测，同时无法准确检测溶液中颗粒种类。

发明内容

本实用新型目的在于提供一种具有新型结构V型单纳米颗粒多种类检测装置，用于准确区分不同种类空间尺寸偏差较大的颗粒，降低检测误差。检测前先让已知颗粒流过直检测通道，标定流过直检测通道时电流表的电流变化量；然后让待检测颗粒流过直检测通道读取电流表电流量；通过对比待测颗粒电流量与标定颗粒电流量来确认待检测颗粒类型。多检测通道可以提高整体检测效率，通过细化检测通道大小可以在单次检测中检测大小分布不均的颗粒从而来提高检测精度。

本实用新型的技术方案是：一种V型单纳米颗粒多种类检测装置，包括接正电压的电极、V型入口通道、矩形挡块、直检测通道、矩形出口通道、接零电压的电极、电流表、外接电源；矩形挡块位于V型入口通道里面；装置接正电压的电极与V型入口通道相连，V型入口通道分别与第一直检测通道、第二直检测通道、第三直检测通道相连；第一直检测通道与第一矩形出口通道相连，第一矩形出口通道与第一接零电压的电极相连后串联一只电流表连接电源负极；第二直检测通道与第二矩形出口通道相连，第二矩形出口通道与第二接零电压的电极相连后串联一只电流表连接电源负极，第三直检测通道与第三矩形出口通道相连，第三矩形出口通道与第三接零电压的电极相连后串联一只电流表连接电源负极。单个待检测颗粒从V型入口通道流入，V型入口通道处接有0.002V的正电压，V型入口通道上半部为矩形，内壁是不带有表面电荷的结构，下半部为V型内壁带有表面电荷结构；待检测颗粒从V型入口通道进入检测装置，在静电场力的作用下驱动待检测颗粒向直检测通道方向移动，在矩形挡块的作用下待检测颗粒向V型入口两边壁流动，穿过矩形挡块与V型入口通道上半部的通道到达直检测通道；待检测颗粒先经过宽度为4μm的直检测通道，当颗粒空间尺寸小于4μm时直接流过直检测通道，待检测颗粒空间尺寸大于4μm时无法进入4μm的直检测通道而流向7μm宽度的直检测通道；在静电场的驱动下，大颗粒粒子会顺着V型入口通道斜壁流往直检测通道，不会堵住4μm宽度的直检测通道；在直检测通道内壁中不带有表面电荷。在待检测颗粒流过直检测通道过程中通过电流表读取电流量，与已知颗粒标定电流对比得出颗粒类型，待检测颗粒流经矩形出口通道流出检测装置。V型单纳米颗粒多种类检测装置总长度为125μm，总宽度为103μm；V型入口通道上半部L3长度为37μm、直检测通道L2长度为37μm、L5长度为21μm；矩形出口通道L1长度为38μm；矩形出口通道中W1宽度为36μm；矩形挡块宽度W2为87μm，长度L4为16μm。