[实用新型]一种高效的IC外观检测分检装置

说明书

本实用新型是一种高效的IC外观检测分检装置，包括工作平台，其特征在于，所述工作平台上平行可拆卸安有料盘一和料盘二，所述左右导轨内的其中一个所述同步轮同轴设有左右电机，所述滑块上固接有电磁阀组，所述真空吸嘴与外界真空设备相连。本实用新型结构设计合理，操作便捷，通过设置带有左右电机的左右导轨，带有前后电机的前后导轨，带有升降电机的导向柱，以及真空吸嘴，便于移动取放IC，通过相机对IC进行拍照对比，避免了人工目测检测时因IC生产量大，锡很小，检测人员长时间用眼易造成视觉疲劳，很容易出现错检，漏检的情况，使质量保证系统避免受到人为主观干扰，有效提升了检测分检效率。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测设备技术领域，尤其涉及一种高效的IC外观检测分检装置。

背景技术

随着电子元件迅速向微型化、片式化、高性能方向的发展，集成电路IC的外观缺陷检测是电子元件的质量保证，通常在IC植好球，焊接好以后，要对IC的外观进行检测，外观检测是IC生产的一个重要环节，通过外观检测，可以避免由IC外观缺陷导致的IC功能缺陷。目前IC外观检测仍然采用传统的人工目测检测，发现缺陷后，手动剔除不合格产品，由于IC生产量大，锡很小，检测人员长时间用眼易造成视觉疲劳，很容易出现错检，漏检的情况，使质量保证系统受到人为主观干扰，造成检测分检效率无法有效提升。

发明内容

本实用新型旨在解决现有技术的不足，而提供一种高效的IC外观检测分检装置。

本实用新型为实现上述目的，采用以下技术方案：

一种高效的IC外观检测分检装置，包括工作平台，其特征在于，所述工作平台上平行可拆卸安有料盘一和料盘二，所述料盘一和所述料盘二上均布有若干凹槽，位于所述料盘一和所述料盘二之间的所述工作平台上安有相机，所述工作平台的左右两端平行安有前后导轨，所述料盘一和所述料盘二位于两个所述前后导轨之间，两个所述前后导轨之间设有水平的连接柱，所述连接柱的前端平齐设有水平的左右导轨，所述左右导轨和所述前后导轨内的两端转动安有同步轮，所述同步轮上套有分别与所述左右导轨和所述前后导轨同轴的钢丝同步带，两个所述前后导轨的所述钢丝同步带上对应固定套有若干滑台二，所述滑台二与所述前后导轨滑动设置，所述左右导轨的所述钢丝同步带上固定套有滑台一，所述滑台一与所述左右导轨滑动设置，所述连接柱和所述左右导轨的两端均固接在所述滑台二上，其中一个所述前后导轨内的其中一个所述同步轮同轴设有前后电机，所述前后电机的输出轴通过联轴器与所述同步轮连接，所述前后电机垂直安装在所述前后导轨的外侧，所述左右导轨内的其中一个所述同步轮同轴设有左右电机，所述左右电机的输出轴通过联轴器与所述同步轮连接，所述左右电机垂直安装在所述左右导轨的外侧，与所述连接柱相对的所述滑台一的侧壁固接有竖直的导向柱，远离所述连接柱的所述导向柱的一侧竖直设有凹槽，所述凹槽内竖直转动设有丝杠，所述丝杠的顶端贯穿所述导向柱同轴连有升降电机，所述丝杠的底部转动安装在所述凹槽底部，所述丝杠上套有滑块，所述滑块的侧壁与所述凹槽的内壁贴合设置，所述滑块上固接有电磁阀组，所述电磁阀组的底部通过连接管连有真空吸嘴，所述真空吸嘴安装在所述滑块的底部，所述真空吸嘴与外界真空设备相连。

所述前后电机、所述左右电机和所述升降电机均采用步进电机。

所述料盘一和所述料盘二的截面均为长方形。

本实用新型的有益效果是：本实用新型结构设计合理，操作便捷，通过设置带有左右电机的左右导轨，带有前后电机的前后导轨，带有升降电机的导向柱，以及真空吸嘴，便于移动取放IC，通过相机对IC进行拍照对比，避免了人工目测检测时因IC生产量大，锡很小，检测人员长时间用眼易造成视觉疲劳，很容易出现错检，漏检的情况，使质量保证系统避免受到人为主观干扰，有效提升了检测分检效率。

附图说明

图1为本实用新型的主视图；

图2为本实用新型的俯视图；

图3为本实用新型的左视图；