[实用新型]一种温度传感器有效
申请号: | 201821965998.9 | 申请日: | 2018-11-27 |
公开(公告)号: | CN209559360U | 公开(公告)日: | 2019-10-29 |
发明(设计)人: | 余占清;王晓蕊;牟亚;曾嵘;庄池杰 | 申请(专利权)人: | 广东电网有限责任公司惠州供电局;清华大学 |
主分类号: | G01K7/24 | 分类号: | G01K7/24 |
代理公司: | 北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11594 | 代理人: | 张陆军;张迎新 |
地址: | 516000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 温度传感器 压敏电阻 顶层硅 硅微桥 电阻 热膨胀 离子注入工艺 本实用新型 传感器结构 双层膜结构 金属铝层 可动结构 数值关系 衬底硅 灵敏度 传感器 溅射 下层 电路 悬空 测量 上层 检测 制作 | ||
1.一种温度传感器,所述传感器采用硅微桥双层膜结构,且制作在SOI器件上,其特征在于,
下层为SOI器件的顶层硅,所述顶层硅上通过离子注入工艺形成压敏电阻;
上层为通过溅射工艺形成的金属铝层;
所述硅微桥下方悬空,且不与所述SOI器件的衬底硅相连接。
2.根据权利要求1所述的温度传感器,其特征在于,所述金属铝层与顶层硅的两端均固定。
3.根据权利要求1所述的温度传感器,其特征在于,所述压敏电阻在所述硅微桥上的宽度范围为10~20μm。
4.根据权利要求3所述的温度传感器,其特征在于,所述硅微桥为可动结构,且所述硅微桥的长度为500μm,宽度为50μm,金属铝层厚度为1.5μm,顶层硅厚度为8μm。
5.根据权利要求1-4任一所述的温度传感器,其特征在于,所述传感器还包括三个定值电阻,其中,
所述三个定值电阻位于所述SOI器件上,且下方不悬空。
6.根据权利要求5所述的温度传感器,其特征在于,所述三个定值电阻与所述压敏电阻通过电引线连接构成惠斯通桥。
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