[实用新型]一种烹饪器具的过零检测电路

说明书

本实用新型公开了一种烹饪器具的过零检测电路，属于烹饪器具技术领域，本实用新型中的过零检测电路，包括连接于市电的滤波模块和整流模块，以及设于整流模块输出端的开关电源模块，所述过零检测电路还包括过零采样模块以及多个放电电阻，所述多个放电电阻串连在所述整流模块前端的市电火线和零线之间，所述过零采样模块的输入端连接在所述多个放电电阻之间，以采用所述放电电阻分压。由此可知，本实用新型的过零检测电路，能够有效提高过零点的检测精准性，以实现可控硅的精确控制，同时也能使烹饪器具断电时，通过放电电阻急速释放过零检测电路中的残余电荷，以降低插头两端的电压，以保证用户人身安全，避免发生瞬间触电。

【技术领域】

本实用新型涉及厨房烹饪器具技术领域，尤其涉及一种烹饪器具的过零检测电路。

【背景技术】

目前烹饪器具中的功率一般通过斩波或丢波方式进行控制，因此需要知道市电的零点后，才能知道何时斩波或丢波，以实现可控硅开关对功率进行控制，丢波方式EMI效果比斩波方式好，因此更偏向于使用丢波方式控制，但是如果过零位置不准确，可控硅提前或延后打开，则会造成一定的干扰，导致EMI效果变差，因此需采用较高成本的滤波电路才能保证EMI的余量。

现有技术中烹饪器具的过零检测电路包括连接于市电的滤波模块、整流桥、过零采样模块以及设于整流桥输出端的开关电源模块，过零采样模块的输入端连接在整流桥的后端，以进行桥后采样，这样一来，由于经过整流后的电路最低点为过零点，加之，整流桥中的二极管存在0.7V的压降，因此零点电压失真，使其不是一个点而是一个区间，由此会导致过零点采集不准确，同时循环检测IO口高低电平，再进行相关处理存在一定延迟，会导致过零点的时效性进一步变差，从而导致EMI效果变差。

【实用新型内容】

本实用新型所要解决的技术问题在于克服现有技术的不足而提供一种烹饪器具的过零检测电路，能够有效提高过零点的检测精准性，以实现可控硅的精确控制，同时也能使烹饪器具断电时，通过放电电阻急速释放过零检测电路中的残余电荷，以降低插头两端的电压，以保证用户人身安全，避免发生瞬间触电。

为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：

一种烹饪器具的过零检测电路，包括连接于市电的滤波模块和整流模块，以及设于整流模块输出端的开关电源模块，所述过零检测电路还包括过零采样模块以及多个放电电阻，所述多个放电电阻串连在所述整流模块前端的市电火线和零线之间，所述过零采样模块的输入端连接在所述多个放电电阻之间，以采用所述放电电阻分压。

进一步的，所述多个放电电阻包括连接在火线和过零采样模块的输入端之间的第一电阻组，以及连接在过零采样模块的输入端和零线之间的第二电阻组，所述第一电阻组和/或所述第二电阻组包括至少2个电阻。

进一步的，所述多个放电电阻的总阻值为50KΩ～300KΩ。

进一步的，所述多个放电电阻为贴片式封装电阻。

进一步的，所述过零采样模块包括稳压二极管和三极管，所述稳压二极管的负极连接过零采样模块的输入端，所述稳压二极管的正极连接所述三极管的基极，所述三极管的集电极连接过零采样模块的输出端，所述三极管的发射极接地。

更进一步的，所述三极管的发射极和三极管的基极之间还并联有第一电阻、第一电容和第一二极管，所述三极管的发射极和三极管的集电极之间并联有第二电容和第二电阻，所述三极管的集电极与5V供电端之间连接有第三电阻。

进一步的，所述过零采样模块的输出端连接MCU的外部中断引脚。

进一步的，所述过零检测电路还包括与火线连接的熔断器，所述熔断器的输出端分别与所述多个放电电阻的输入端和滤波模块的输入端连接。

进一步的，所述整流模块为整流二极管，所述整流二极管的正极与所述滤波模块的输出端连接，所述整流二极管的负极与开关电源模块的输入端连接。