[实用新型]一种圆片点边晶治具有效
申请号: | 201821996646.X | 申请日: | 2018-11-30 |
公开(公告)号: | CN209298072U | 公开(公告)日: | 2019-08-23 |
发明(设计)人: | 翟海峰;张旭东 | 申请(专利权)人: | 江苏长电科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人: | 赵海波;孙燕波 |
地址: | 214400 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 横向支架 圆片 治具 本实用新型 调整滑槽 环形滑槽 环形支架 滑块 背面设置 人员使用 | ||
1.一种圆片点边晶治具,其特征在于:它包括环形支架(1)、横向支架(2)和点除笔(3),所述环形支架(1)上开设有环形滑槽(11),所述横向支架(2)背面设置有左右两个滑块(23),所述滑块(23)设置于环形滑槽(11)内,所述横向支架(2)一侧开设有调整滑槽(21),所述点除笔(3)设置于调整滑槽(21)内。
2.根据权利要求1所述的一种圆片点边晶治具,其特征在于:所述环形滑槽(11)呈倒T型,所述滑块(23)也呈倒T型,倒T型的滑块(23)契入倒T型的环形滑槽(11)内。
3.根据权利要求1所述的一种圆片点边晶治具,其特征在于:所述环形滑槽(11)沿直径方向设置有左右两个安装缺口(12)。
4.根据权利要求1所述的一种圆片点边晶治具,其特征在于:所述环形支架(1)背面内环边缘设置有一圈定位支点(13)。
5.根据权利要求1所述的一种圆片点边晶治具,其特征在于:左右两个滑块(23)的间距与环形滑槽(11)的直径相配合。
6.根据权利要求1所述的一种圆片点边晶治具,其特征在于:所述调整滑槽(21)一侧设置有刻度尺(22)。
7.根据权利要求1所述的一种圆片点边晶治具,其特征在于:所述点除笔(3)下部设置有固定凸块(31),所述点除笔(3)通过固定凸块(31)和锁紧旋钮(4)固定设置于调整滑槽(21)内。
8.根据权利要求7所述的一种圆片点边晶治具,其特征在于:所述固定凸块(31)上设置有指示尖部(32)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏长电科技股份有限公司,未经江苏长电科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201821996646.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:晶圆缺陷检测装置以及半导体工艺设备
- 下一篇:腔室进气结构以及反应腔室
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造