[实用新型]一种厚度测量装置有效
申请号: | 201822042447.1 | 申请日: | 2018-12-06 |
公开(公告)号: | CN209013956U | 公开(公告)日: | 2019-06-21 |
发明(设计)人: | 王雷;沈思情;姚钉丁;张俊宝;陈猛 | 申请(专利权)人: | 上海超硅半导体有限公司;重庆超硅半导体有限公司 |
主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 201617 上海市松*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 机械手 载物台 厚度测量装置 输出模块 载物面 本实用新型 控制模块 测量 待测样品 手工测量 位置可调 自动测量 承载 发送 | ||
本实用新型公开了一种厚度测量装置。厚度测量装置包括载物台、控制模块、机械手和输出模块;载物台包括载物面,载物面用于承载待测样品;机械手位于载物台的载物面一侧,机械手与载物台的相对位置可调;控制模块与机械手以及输出模块均相连,用于调整机械手与载物台的相对位置,以对待测样品厚度进行测量,并将测量结果发送至输出模块。相较于现有技术中手工测量样品厚度的方法,本实用新型实施例提供的技术方案可以自动测量样品厚度,提高测量速度和测量精度。
技术领域
本实用新型实施例涉及自动测量技术领域,尤其涉及一种厚度测量装置。
背景技术
随着半导体制造业的发展和进步,人们对半导体器件制作过程中相关部件的尺寸测量的要求越来越高。
目前,半导体薄片在各个工站出料后,一般依靠人工用千分表量测其厚度,但是,因每个人测量手法不一样,所得到的测量数据大多不精准,而且依靠人工手动测量,测量速率较慢。
实用新型内容
本实用新型提供一种厚度测量装置,以实现自动化测量样品厚度,进而提高测量速度和测量精度。
第一方面,本实用新型实施例提供了一种厚度测量装置,包括载物台、控制模块、机械手和输出模块;
载物台包括载物面,载物面用于承载待测样品;
机械手位于载物台的载物面一侧,机械手与载物台的相对位置可调;
控制模块与机械手以及输出模块均相连,用于调整机械手与载物台的相对位置,以对待测样品厚度进行测量,并将测量结果发送至输出模块。
进一步地,该厚度测量装置还包括固定模块,固定模块位于载物台的载物面一侧,用于将待测样品固定于载物台上。
进一步地,固定模块包括负压吸盘、真空发生器、第一连接管路、第一电磁阀和第一继电器;
负压吸盘设置于载物台的载物面上;
负压吸盘、真空发生器、第一连接管路以及第一电磁阀沿气体流动方向依次连接;
第一继电器与控制模块以及第一电磁阀均连接,用于在控制模块的控制下,调整第一电磁阀的工作状态,以控制负压吸盘将待测样品固定或释放。
进一步地,机械手包括量测计,量测计包括测量探针和壳体,壳体为中空的圆柱形,测量探针设置于壳体内,并可相对于壳体沿壳体的轴线方向进行伸缩运动。
进一步地,机械手还包括第二连接管路、第二电磁阀和第二继电器;
量测计、第二连接管路和第二电磁阀沿气体流动方向依次连接;
第二继电器与控制模块和第二电磁阀均连接,用于在控制模块的控制下,调整第二电磁阀的工作状态,以控制测量探针相对于壳体沿壳体的轴线方向进行伸缩运动。
进一步地,该厚度测量装置还包括机械臂,机械臂与机械手相连,用于调整机械手与载物台的相对位置;
机械臂包括第一伺服电缸、第二伺服电缸、第一伺服驱动器和第二伺服驱动器;
第一伺服电缸分别与机械手以及第二伺服电缸机械连接;
控制模块通过第一伺服驱动器与第一伺服电缸连接,用于控制第一伺服驱动器驱动第一伺服电缸沿着第一方向移动;
控制模块通过第二伺服驱动器与第二伺服电缸连接,用于控制第二伺服驱动器驱动第二伺服电缸沿着第二方向移动;
其中,第一方向与第二方向垂直。
进一步地,控制模块包括可编程逻辑控制器PLC。
进一步地,输出模块为触摸显示屏。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海超硅半导体有限公司;重庆超硅半导体有限公司,未经上海超硅半导体有限公司;重庆超硅半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201822042447.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:楼板测厚仪
- 下一篇:一种轮胎线钢材快速检测设备