[实用新型]一种探头性能测试配套装置

说明书

本实用新型提供一种探头性能测试配套装置，包括A型试块、B型试块、C型试块和试块通用转动支承装置；所述A型试块、B型试块和C型试块通过试块通用转动支承装置进行夹持翻转。在测试时，首先确定探头的类型和该探头所需测试的性能，再根据探头的类型选择配套装置进行测试。本实用新型通过将三种不同类型的试块与支承装置的配合使用构成探头测试的专用配套装置，根据不同类型的探头以及探头需要测试的性能，能够自由选择试块，满足多种类型探头性能测试的需要，同时降低试块数量、减少测试成本、提高测试效果。

技术领域

本实用新型涉及一种机车车辆零部件无损检测用具，尤其是一种探头性能测试配套装置，属于无损检测技术领域。

背景技术

超声波检测技术是应用最广泛的无损检测技术。超声波探头的性能直接影响了超声波检测结果的真实性和可靠性。国内外现行的超声波探头性能测试技术需借助大量试块进行判定。探头类型的多样化，使得现有探头性能测试技术的应用更为复杂、繁琐，且测试效果较差。针对不同类型的探头的主要性能的测试方法应用结果不佳。开发一套针对不同类型探头的性能测定综合方法及相关配套装置是解决以上问题的关键。

实用新型内容

本实用新型针对上述提出的技术问题，提出一种探头性能测试配套装置，能够满足多种类型探头性能测试的需要，同时降低试块数量等测试成本、提高测试效果。

本实用新型解决以上技术问题的技术方案是:提供一种探头性能测试配套装置，包括A型试块、B型试块、C型试块和试块通用转动支承装置；所述A型试块、B型试块和C型试块通过试块通用转动支承装置进行夹持翻转，

所述A型试块为具有正面、上端面、左端面、右端面、背面和底面的立方体状测试块体，在所述测试块体的正面上设有与背面相通的横通孔；所述左端面与所述底面相邻的一端设有平底孔；所述左端面和右端面的中部各设有一个中心孔；所述底面为上设有一段凸圆弧面；所述正面设有三组刻线，第一组长度刻线a位于正面与上端面交汇处，第二组刻线为角度刻线a位于正面与底面平面交汇处，第三组角度刻线b位于正面与底面的凸圆弧面交汇处；在背面设有一组位于背面与底面的凸圆弧面交汇处的长度刻线b；

所述B型试块包括依次连成一体且半径不同的半圆柱体状第一扇体、第二扇体和第三扇体，所述第一扇体、第二扇体和第三扇体的圆心在同一直线上，所述第二扇体的半圆柱体的半径小于所述第一扇体的半圆柱体的半径，所述第一扇体的半圆柱体的半径小于第三扇体的半圆柱体的半径，第三扇体的半圆柱半径是第二扇体的半圆柱体的半径的2±0.5倍；所述第一扇体和第二扇体与圆弧面相对的侧立面上均具有凸圆弧面和平面；所述第三扇体与圆弧面相对的侧立面为平面；

所述C型试块包括轴心在一条直线上并连成一体的第一半圆柱体、第二半圆柱体、第三半圆柱体、第四半圆柱体、第五半圆柱体、第六半圆柱体和第七半圆柱体，所述第一半圆柱体至第七半圆柱体的半径逐级减少；并且所述的七个半圆柱体侧立面的平面在同一平面上，在侧立面的平面、第一半圆柱体和第七半圆柱体的端面上设有C型试块平面刻线和C型试块端面刻线；

所述试块通用转动支承装置包括支架、第一固定座、第二固定座、可滑动支架端、第一轴、第二轴、第一定位销、第二定位销、防转轴销、第一顶轴、第二顶轴、第一螺帽和第二螺帽，所述支架的两端分别与第一固定座和第二固定座连接固定，所述支架上表面开设滑槽，所述可滑动支架端、第一顶轴和第二顶轴嵌入在所述滑槽内滑动，第一螺帽和第二螺帽分别将第一顶轴和第二顶轴固定限位在所述支架的滑槽上，所述支架一端具有竖板与所述可滑动支架端相对设置，所述竖板上具有第一孔，所述可滑动支架端具有第二孔和第三孔，所述可滑动支架端在支架的滑槽上滑动时，所述第一孔和第二孔的中心连线与两孔轴线方向重合，第一轴插在第一孔中并由所述第一定位销将第一轴固定，所述第二轴插在第二孔中并由第二定位销将第二轴固定，所述防转轴销插在第三孔中。

本实用新型的进一步限定技术方案，前述的探头性能测试配套装置，所述A 型试块的横通孔共设有七个，每个横通孔的圆心共线，圆心连线与所述上端面的夹角呈45°