[实用新型]一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统有效

专利信息
申请号: 201822087469.X 申请日: 2018-12-13
公开(公告)号: CN209281475U 公开(公告)日: 2019-08-20
发明(设计)人: 杜娟;赵欢;胡跃明 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 王东东
地址: 511458 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 待测工件 物体表面 反射光接收板 反射光线 高光 缺陷检测系统 本实用新型 摄像头 线性光源 反射光 待检测区域 摄像头采集 输入控制器 检测结果 接收平面 图像序列 控制器 直射 出射光 反射点 线性光 检测 遍历 反射 放大 采集 运送 视野
【说明书】:

实用新型公开了一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统,包括控制器、反射光接收板、线性光源及摄像头,将待测工件运送至检测位,使线性光源的出射光直射待测工件的表面,此时反射光接收板接收待测工件表面的反射光线,反射光接收板在摄像头的采集视野内,调整待测工件,使线性光能够遍历整个待检测区域,摄像头采集包含反射光线的图像序列输入控制器。本实用新型利用反射光线对高光物体表面的检测,能够通过增加反射点到反射接收平面的距离实现对物体表面缺陷的放大,检测结果更为精确。

技术领域

本实用新型涉及数字图像处理领域,具体涉及一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统。

背景技术

机器视觉技术是利用图像采集系统将图像转换成数字信号,再利用上位机通过分析数字图像之间的数字关系,最终通过提取、分析图像特征,实现人类目的的过程。但是高光物体由于其表面对光线有极强的反射作用,一定程度上遮盖了所需的物体特征。现在比较通用的方法是通过偏振镜片等滤镜加之以有效的光源消除高光区域进行检测,但是消除高光区域的同时易造成缺陷特征的弱化,对于一些细微的缺陷难以检测,这成为制约一些行业引入机器视觉设备进行自动化检测的重要瓶颈。

实用新型内容

为了克服现有技术存在的缺点与不足,本实用新型提供一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统。

本实用新型采用如下技术方案:

一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统,其特征在于,包括控制器、反射光接收板、线性光源及摄像头,将待测工件运送至检测位,使线性光源的出射光直射待测工件的表面,此时反射光接收板接收待测工件表面的反射光线,反射光接收板在摄像头的采集视野内,调整待测工件,使线性光源的出射光能够遍历整个待检测区域,摄像头采集包含反射光线的图像序列输入控制器。

进一步的,还包括传动设备,所述传动设备包括皮带、传动齿轮及直流电机,所述直流电机分别与传动齿轮及控制器连接。

进一步的,还包括夹取设备,所述夹取设备包括夹取待测工件并进行旋转的夹具及控制夹具旋转的旋转步进电机。

进一步的,还包括挡光板,所述挡光板设置在反射光接收板的正前方。

进一步的,所述反射光接收板是不透明的。

进一步的,所述挡光板开有一个孔。

本实用新型的有益效果:

(1)本实用新型对环境、光源、图像采集系统等的要求不高,硬件成本很低,且检测效果较好,在工业生产环境中进行推广具有较大优势;

(2)本实用新型利用反射光线对高光物体表面的检测,能够通过增加反射点到反射接收平面的距离实现对物体表面缺陷的放大,检测结果更为精确;

(3)本实用新型还具有可扩展性,通过提高摄像头的帧率及像素、增强线性光源稳定性等方法可以为检测提供更加精确有效的信息,进一步提高检测的准确性;

(4)本实用新型可具有多种实施形式,可根据实际应用环境与待测工件的不同应用不同的硬件结构进行实施;

(5)本实用新型能够将规则曲面转化为类平面进行处理,并且对复杂曲面能够通过增加mask(掩模)的方法进行检测。

(6)本实用新型应用范围广,只需要调节表面缺陷阈值上下限,直线灰度阈值上下限及表面形变缺陷阈值上下限等,便可实现不同物体的检测,参数的调节简单,适合作为模块嵌入不同的检测系统之中;

附图说明

图1是本实用新型实施例1的结构示意图;

图2是本实用新型实施例2的结构示意图。

具体实施方式

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