[实用新型]一种薄膜外观专用检测装置

说明书

本实用新型公开了一种薄膜外观专用检测装置，包括基座、偏光膜片、灯箱组和薄膜卷支架，所述基座的左侧内部设置有偏光膜片，且基座的左侧安装有灯箱组，所述灯箱组的外表面设置有透光孔，且灯箱组的外侧设置有第一转轴，并且第一转轴的外表面设置有遮光块，所述基座的右侧固定连接有支撑架，且支撑架的上端设置有第二转轴，并且第二转轴的外表面设置有连接块，所述连接块的上端内部设置有弹簧，且弹簧的外侧设置有卡块，所述支撑架的外侧固定连接有限位杆。该检测薄膜外观专用工具，通过遮光板调节灯箱组中不同灯光的照射效果，配合偏光膜片可更容易的检验各种隐性薄膜缺陷，提高了该装置的工作效率。

技术领域

本实用新型涉及薄膜外观检测技术领域，具体为一种薄膜外观专用检测装置。

背景技术

塑料薄膜被广泛应用在多个行业，包括印刷复合包装膜、电工绝缘膜、电容膜、保护膜和离型膜等，由于市场要求的变化，对薄膜的外观要求越来越高，因此对薄膜外观的检查难度增加，而薄膜外观一般需要使用专用工具进行外观检测。

现有的检测薄膜外观专用工具还存在一定的缺陷，其不方便根据需要让使用者随意的切换光源，以满足薄膜外观检查的各种光源条件，且现有的监测装置无法发现部分塑料薄膜残存的隐性缺陷，并且不方便使用者对不同类型的薄膜卷材外观进行检查。

针对上述问题，急需在原有专用工具结构的基础上进行创新设计。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种薄膜外观专用检测装置，以解决上述背景技术中提出的不方便随意的切换光源，以满足薄膜外观检查的各种光源条件，无法发现部分塑料薄膜残存的隐性缺陷，不方便使用者对不同类型的薄膜卷材外观进行检查的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种薄膜外观专用检测装置，包括基座、偏光膜片、灯箱组和薄膜卷支架，所述基座的左侧内部设置有偏光膜片，且基座的左侧安装有灯箱组，所述灯箱组的外表面设置有透光孔，且灯箱组的外侧设置有第一转轴，并且第一转轴的外表面设置有遮光块，所述基座的右侧固定连接有支撑架，且支撑架的上端设置有第二转轴，并且第二转轴的外表面设置有连接块，所述连接块的上端内部设置有弹簧，且弹簧的外侧设置有卡块，所述支撑架的外侧固定连接有限位杆，所述薄膜卷支架设置在基座的外侧上端，所述限位杆的内部设置有活动杆，且活动杆的上端设置有连接轴，所述连接轴的外表面设置有活动块，且活动块的外侧设置有磁铁。

优选的，所述灯箱组的外表面等角度分布有4个透光孔，且灯箱组通过第一转轴与遮光块构成可转动结构。

优选的，所述连接块通过第二转轴与支撑架构成可转动结构，且连接块的外侧下表面与活动杆的上表面相贴合。

优选的，所述卡块为梯形结构，且卡块通过弹簧与连接块构成伸缩结构，并且卡块与薄膜卷支架为卡合连接。

优选的，所述活动杆与限位杆为滑动连接，且活动杆与活动块为转动连接。

优选的，所述活动块关于活动杆的中心点对称设置有2个，且2个活动块通过磁铁构成磁性连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该一种检测薄膜外观专用工具，

1.设置有可活动的遮光块，使用者可根据检测需要转动遮光块的外侧，来调节灯箱组表面4种不同灯光的展露面积，从而满足薄膜外观检查的各种光源条件，有效的提高了整体装置的检测效率；

2.设置有偏光膜片，使用者将检测的薄膜固定在2个活动块之间后，可以通过偏光膜片的特性配合灯光的照射，检验薄膜形变等常规检查无法发现的隐性缺陷，有效的提高了该装置的使用效果；

3.设置有薄膜卷支架，使用者可将连接块通过卡块从薄膜卷支架内拆卸，进而将需要检测的不同类型的塑料薄膜安装在薄膜卷支架上，配合2个活动块对薄膜的固定，可以方便检查薄膜卷材放卷检查外观，有效的提高了该装置的实用性。