[实用新型]一种挂台定位结构功能测试平台

说明书

本实用新型旨在提供一种能够较好地保护产品及其电子元器件，能有效降低劳动强度，提高整体测试效率，并且其结构简单、定位可靠、制造成本低的挂台定位结构功能测试平台。本实用新型包括定位模组及配合设置在所述定位模组下方的针板模组，所述定位模组包括载板、设于所述载板顶部的气缸、与所述气缸传动连接的推块、与所述推块配合设置的定位块及固定在所述定位块下方的导针板，所述针板模组包括探针、针板组件及PCB板，所述探针的一端外露在所述针板组件一侧，所述探针的另一端贯穿所述针板组件与所述PCB板电信号连接，所述导针板与所述探针相适配。本实用新型应用于PCB电路板测试设备的技术领域。

技术领域

本实用新型涉及一种电路板的测试平台，特别涉及一种挂台定位结构功能测试平台。

背景技术

探针测试方法广泛应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。能够高效便捷地实现对产品导电性，电容、电感、电阻等性能参数的测试，有效提高了产品的可靠性，缩短了产品的开发周期，有助于产品质量的不断提升。探针本身自带弹簧，需与产品之间保持一定的接触压力，才能够保证测试的稳定性，而产品自重较小，如无其它外力作用，产品将被探针抵离导针板，其间的接触压力也将无法满足测试需求，目前，将产品固定在导针板上的方法如下：

1.通过从产品正上方增加压头装置，在探针接触产品之前，将产品按压在导针板上，由于作用力较大，易对产品上的电子元器件产生损坏，不利于对产品的保护，且装置复杂，增加了测试成本。

2.另一种方法是采用探针接触按压产品，通过压缩一定的行程产生给产品一个向下的作用力，通过探针位置的布置，能够较好地避开电子元器件，为了保证能够将产品固定在导针板上，但需要采用更多的探针进行下压，这将使测试成本大大提高，也不便于后期设备的维护。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种能够较好地保护产品及其电子元器件，能有效降低劳动强度，提高整体测试效率，并且其结构简单、定位可靠、制造成本低的挂台定位结构功能测试平台。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括定位模组及配合设置在所述定位模组下方的针板模组，所述定位模组包括载板、设于所述载板顶部的气缸、与所述气缸传动连接的推块、与所述推块配合设置的定位块及固定在所述定位块下方的导针板，所述针板模组包括探针、针板组件及PCB板，所述探针的一端外露在所述针板组件一侧，所述探针的另一端贯穿所述针板组件与所述PCB板电信号连接，所述导针板与所述探针相适配。

由上述方案可见，本实用新型通过所述气缸驱动所述推块，所述推块配合所述定位块夹紧产品，进而对产品的外圈面进行面面接触，在避开产品上的电子元器件的同时，相对所述探针的点面接触能够更有效地利用产品上的可按压空间，降低对产品的损伤；并且通过采用所述推块与所述定位块结合的方式对产品进行定位，增加了产品的放置空间，降低了操作人员取放产品的劳动强度，有助于提高整体的测试效率；当产品被夹紧后，所述定位模组被驱动下压，产品与所述针板模组上的所述探针相接触，最终经由所述探针将产品的相关参数传输到所述PCB板上，最终实现测试，其结构简单，操作易懂。

一个优选方案是，所述载板开设有第一安装槽及第二安装槽，设于所述第一安装槽上的所述推块上设有滑台，所述第一安装槽上还设有与所述滑台配合设置的导轨、与所述气缸运动端固定连接的推台及若干个配合安装于所述推块的两侧的限位块，所述推块通过所述滑台和所述导轨在所述第一安装槽上滑动，所述推台与所述推块传动连接，所述导针板适配安装在所述第二安装槽上。

由上述方案可见，所述气杆驱动所述推台，所述推台带动所述推块，所述推块通过所述滑台沿着所述第一安装槽上的所述导轨进行滑动，滑动过程中通过所述限位块定位导向，从而实现所述推块滑向所述定位块并夹紧产品。