[实用新型]一种用于批量测试的二维阵列进样装置有效
| 申请号： | 201822100637.4 | 申请日： | 2018-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN209387556U | 公开（公告）日： | 2019-09-13 |
| 发明（设计）人： | 孙良卫;张昌盛;闫冠云;陈良;彭梅;刘栋;孙光爱 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 |
| 主分类号： | G01N23/202 | 分类号： | G01N23/202 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人： | 翟长明;韩志英 |
| 地址： | 621999 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 进样装置 二维阵列 批量测试 限束光阑 支架 本实用新型 样品安装 插片 微观结构测试 二维运动台 测试 薄片样品 材料分析 材料内部 等距分布 二维平移 复杂操作 固定样品 快速测量 入射光束 数量调整 小角散射 锥形孔 组合式 多层 同心 驱动 分析 保证 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于批量测试的二维阵列进样装置，其特征在于：所述的进样装置包括支架（1）、样品插片（5）和限束光阑（2）；
所述的支架（1）由竖直叠加的m层长条状进样条组成，m≥1，各层之间通过定位栓固定，每层长条状进样条上有均布的n个样品安装槽（3），n≥10，m×n个样品插片（5）分别插入到样品安装槽（3）中；支架（1）通过位于支架（1）底部的底座（4）固定在二维运动台上；
所述的样品插片（5）为长方体，长方体的顶面中心开有顶方孔（6），样品从顶方孔（6）插入样品插片（5），在长方体的垂直厚度方向开有光阑孔（7），光阑孔（7）为通孔，样品的中心与光阑孔（7）的中心重合，样品从光阑孔（7）露出；
所述的限束光阑（2）为薄板，从一侧包覆支架（1），限束光阑（2）上开有与样品插片（5）的光阑孔（7）一一对应的限束光阑孔。
2.根据权利要求1所述的用于批量测试的二维阵列进样装置，其特征在于：所述的限束光阑（2）上的限束光阑孔为锥形孔，锥形孔的开口方向与光束的入射方向相同。
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