[实用新型]多通道flash芯片测试装置

说明书

本实用新型公开了一种多通道flash芯片测试装置，包括电源接口、MCU主控模块、至少一个芯片专用夹具和LCD显示模块，所述电源接口、至少一个芯片专用夹具、LCD显示模块分别与MCU主控模块相连接；电源接口选用带有USB通讯芯片的电源接口；多个芯片专用夹具与MCU主控模块可以实现多路flash芯片同时测试；设置EEPROM模块与MCU主控模块连接，可以实现测试数据的存储；设置切换按钮可以实现对多路测试的切换查看。本实用新型的多通道flash芯片测试装置，设计合理，可靠性高，可以提高测试效率并输出具体寿命报告数据。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种多通道flash芯片测试装置。

背景技术

公开号为CN203026141U的中国实用新型专利公开了一种用于测试的 flash 板，它包括板体和阵列在板体上 flash 芯片，以及设置在板体边缘并连接所述 flash 芯片以用于与上 位机连接的接口，接口含有用于选择 flash 芯片的针脚，该方案用于进行flash 的测试。

公开号为CN106653097A的中国发明专利申请提供了一种FLASH芯片的测试系统，它包括主控服务器、老化柜和测试控制板，将测试板插入测试插口；主控服务器将测试指令下发到测试控制板，测试控制板根据测试指令再下发控制测试板，控制测试板对待测试FLASH进行功能测试；主控服务器控制老化柜的温控系统，控制老化柜温度曲线控制老化柜的温度；采集测试过程的测试数据并将该数据反馈给到主控服务器，同时将待测试FLASH的各个电气参数数据反馈给到主控服务器，主控服务器根据反馈的数据对待测试FLASH进行自动筛选和标识。该方案减少测试过程中对FLASH测试的移动，提高FLASH测试效率。

公开号为CN208172174U的中国实用新型专利公开的Flash芯片测试系统包括了计算机和连接计算机的测试机，测试机设置多个测试头，每个测试头接有一个探针台，每个探针台设有一个用于电连接被测芯片的探针卡，测试机利用多个测试头对放在探针卡上的被测芯片同时进行测试。

在设计研发过程中，对于外置flash芯片的使用相对频繁，但是芯片存储寿命上，只是厂家提供的一个值，不能做出具体的评估。但是在芯片评估质量的时候，寿命测试是一个相对重要的参数。而市面上购买到的flash读写芯片，只是具有写入数据和读取数据的功能，不具备在各种速度下寿命的验证功能，为了能够具体的分析芯片、得到一个可比的参数值，设计一块针对flash芯片的自动测试装置是相当必要的。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种多通道flash芯片测试装置，可以对多个外置flash芯片同时测试写入寿命，并根据写入速度的快慢，得出芯片寿命；同时，针对每一块flash芯片，分别在LCD上显示对应的寿命数据，也可以通过电脑下载数据报告。

为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案。

本实用新型的多通道flash芯片测试装置，包括电源接口，还包括MCU主控模块、芯片专用夹具和LCD显示模块，所述电源接口、芯片专用夹具、LCD显示模块分别与MCU主控模块相连接。

优选的是，所述电源接口采用带有USB通讯芯片的电源接口。

在上述任一技术方案中优选的是，所述MCU主控模块采用RN8213/8215型控制芯片及配套电路。

在上述任一技术方案中优选的是，所述多通道flash芯片测试装置包括至少一个用于夹持flash芯片的芯片专用夹具。

在上述任一技术方案中优选的是，所述多通道flash芯片测试装置包括6个芯片专用夹具，6个芯片专用夹具分别连接RN8213/8215型控制芯片。