[实用新型]一种指纹大板IC测试治具

说明书

本申请公开了一种指纹大板IC测试治具，包括托板，还包括支撑板，支撑板上设有针板与电路板，针板与支撑板可拆卸地连接，电路板与针板电连接；与现有技术相比，本申请可以获得包括以下技术效果：检测大板IC时，无需将IC进行单粒切割，简化了IC的检测步骤且能够同时检测多粒IC，检测效率得到了有效的提升。

技术领域

本申请属于指纹识别技术领域，具体地说，涉及一种指纹大板IC测试治具。

背景技术

随着技术的发展，指纹识别技术被广泛应用于生产生活中，现有的指纹产品上覆有Coating层，随着对颜色种类多样、结构多样化，对Coating层膜厚要求也越来越要，为及时监测膜厚对功能的影响，急需一种能及时检测膜厚功能的治具。现有方法是需要将大板Coating好的IC，拿去进行单粒切割，来进行首件确认和巡检确认，这样可行性低，且流程长，影响监测效果。

实用新型内容

有鉴于此，本申请所要解决的技术问题是提供了一种指纹大板IC测试治具，无需对IC进行单粒切割也能够检测膜厚功能。

为了解决上述技术问题，本申请公开了一种指纹大板IC测试治具，包括托板，还包括支撑板，所述支撑板上设有针板与电路板，所述针板与支撑板可拆卸地连接，所述电路板与针板电连接。

更佳的：所述托板上设有测试孔，所述测试孔为多个且与待测IC相适配。

更佳的：所述支撑板上设有安装孔，所述针板通过安装孔与支撑板可拆卸地连接。

更佳的：所述测试孔间设有定位孔，所述定位孔与测试孔均呈阵列分布。

更佳的：所述支撑板上还设有第一对位孔，所述电路板上设有第二对位孔，所述第二对位孔与第一对位孔相适配。

更佳的：所述电路板上还设有针孔，所述针孔与针板相适配。

更佳的：所述支撑板上设有第一通孔，所述托板上设有第二通孔，所述第一通孔与第二通孔均为多个。

更佳的：所述托板上设有第一缺口，所述支撑板上设有第二缺口，所述第一缺口与第二缺口均为圆弧形且弧度不同。

更佳的：所述支撑板上设有滑槽，所述托板上设有与滑槽相适配的滑轨，所述托板与支撑板滑动连接。

更佳的：还包括压板，所述压板上设有与测试孔相适配的过孔。

与现有技术相比，本申请可以获得包括以下技术效果：

1)检测大板IC时，无需将IC进行单粒切割，简化了IC的检测步骤；

2)能够同时检测多粒IC，检测效率得到了有效的提升。

当然，实施本申请的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有技术效果。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1是本申请实施例的总体结构爆炸图；

图2是本申请实施例的托板结构示意图；

图3是本申请实施例的支撑板结构示意图；

图4是本申请实施例的电路板结构示意图；

图5是本申请实施例的总体结构组装图；

图6是本申请实施例的总体结构透视图。