[实用新型]一种高温测压压头装置有效
申请号: | 201822142138.1 | 申请日: | 2018-12-19 |
公开(公告)号: | CN209513457U | 公开(公告)日: | 2019-10-18 |
发明(设计)人: | 冯雨周;鲍军其;胡冲 | 申请(专利权)人: | 杭州长川科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N3/18 | 分类号: | G01N3/18 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人: | 尉伟敏 |
地址: | 310000 浙江省杭州市滨江区江淑*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测压 头装置 基板 通孔 下端 升降 测压装置 容置槽 上端 贯通 本实用新型 容置槽底面 温度传感器 加热器 压簧组 穿设 适配 压头 集成电路 | ||
本实用新型涉及一种高温测压压头装置,包括:基板,两个至六个测压装置;测压装置包括:与基板下端连接的测压座,设于测压座上端且与测压座两端贯通的容置槽,设于容置槽底面且与测压座下端贯通的通孔,穿设于通孔中且与通孔适配的压头,设于容置槽中且与压头上端连接的升降块,设于升降块中的加热器和温度传感器,设于升降块上端和基板下端之间的压簧组。所述的高温测压压头装置测压稳定性较好适用于集成电路高温测压,测压效率较高且成本较低。
技术领域
本实用新型涉及集成电路测试分选领域,尤其是一种高温测压压头装置。
背景技术
集成电路行业发展迅速,对集成电路产品的良品率要求日益增高,集成电路投放市场前对其品质需要进行检测。测压是集成电路品质检测的重要一环,而测压装置性能好坏直接决定了集成电路测压的效率和稳定性。对高温环境下使用的集成电路需要进行高温测压;传统的集成电路检测设备具有单个或多个独立设置的测压压头,存在测压稳定性较差不适用于集成电路高温测压,测压效率较低或成本较高的不足;因此,设计一种测压稳定性较好适用于集成电路高温测压,测压效率较高且成本较低的高温测压压头装置,成为亟待解决的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了克服目前的集成电路检测设备具有单个或多个独立设置的测压压头,存在测压稳定性较差不适用于集成电路高温测压,测压效率较低或成本较高的不足,提供一种测压稳定性较好适用于集成电路高温测压,测压效率较高且成本较低的高温测压压头装置。
本实用新型的具体技术方案是:
一种高温测压压头装置,包括:基板,两个至六个测压装置;测压装置包括:与基板下端连接的测压座,设于测压座上端且与测压座两端贯通的容置槽,设于容置槽底面且与测压座下端贯通的通孔,穿设于通孔中且与通孔适配的压头,设于容置槽中且与压头上端连接的升降块,设于升降块中的加热器和温度传感器,设于升降块上端和基板下端之间的压簧组;升降块的宽度与容置槽的宽度适配。所述的高温测压压头装置,升降块中设有加热器和温度传感器,压头穿设于通孔中且与通孔适配,升降块的宽度与容置槽的宽度适配,测压稳定性较好适用于集成电路高温测压;测压装置有测压座与基板下端连接的两个至六个,高温测压时测压装置同步升降测压效率较高且成本较低;压簧组利于缓冲压头压住集成电路时的冲击力。
作为优选,所述的压簧组包括四个压簧;升降块上端设有与压簧组的四个压簧一一对应的四个下压簧孔;基板设有个数与测压装置个数相同且一一对应的压簧上孔组和调整螺钉组;压簧上孔组包括:设于基板上端且与压簧组的四个压簧一一对应的四个螺孔和设于基板下端且上端与四个螺孔底面一一对应贯通的四个上压簧孔;调整螺钉组包括四个一一对应位于压簧上孔组的四个螺孔中且与螺孔螺接的调整螺钉;压簧组的压簧的下端一一对应压住下压簧孔的底面;压簧组的压簧的上端一一对应穿过上压簧孔压住调整螺钉的下端。压簧组的压簧的下端一一对应压住下压簧孔的底面,压簧组的压簧的上端一一对应穿过上压簧孔压住调整螺钉的下端,安装稳固利于压簧的压力稳定;旋转调整螺钉能调整压簧的预压力,适应不同规格的集成电路对高温测压的压力要求。
作为优选,所述的高温测压压头装置还包括:两个限位块;测压装置有纵向并列设置的四个;容置槽的长度方向为纵向;一个限位块位于第一个测压装置的升降块和第二个测压装置的升降块上侧且与基板下端连接;另一个限位块位于第三个测压装置的升降块和第四个测压装置的升降块上侧且与基板下端连接。限位块对升降块上升高度进行限位提高安全性。
作为优选,所述的测压装置还包括:设于测压座一侧端的横槽,设于横槽中的温度保险丝,压住温度保险丝且与测压座连接的固定盖。温度保险丝能感应产生的过热,从而切断电路提高安全性。
作为优选,所述的基板一侧端设有若干个走线支架。走线支架利于固定管线且使管线布置整齐美观。
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