[实用新型]一种新型薄膜测厚仪测头

说明书

本实用新型涉及测量技术领域，具体是一种新型薄膜测厚仪测头。一种新型薄膜测厚仪测头，包括壳体、驱动机构、测量机构、支架，所述驱动机构设置于所述壳体内部，所述驱动机构包括步进电机、凸轮机构，所述测量机构包括下测砧、电感测头，所述步进电机连接所述凸轮机构，所述凸轮机构包括凸轮、移动支架、滑竿，所述凸轮通过偏心轴设置于所述支架上，所述滑竿数量为两根，所述滑竿竖直设置，所述滑竿上方设有滑竿固定板连接，所述滑竿通过滑竿套与所述移动支架滑动连接，所述移动支架底部通过滑筒法兰固定连接有滑筒，所述滑筒贯穿所述壳体底部，所述滑筒下方设有电感测头。本实用新型可调节测量时的压强及平行度，实现准确测量。

技术领域

本实用新型涉及测量技术领域，具体是一种新型薄膜测厚仪测头。

背景技术

现有的厚度测量方法很多，大体分为接触式测量和非接触式测量。接触式测量就是直接用带有测头的测量体对待测体进行接触，测出厚度，如螺旋测微计、数字百分表、千分表等，接触式测量大多数都是机械式的测量。非接触性的测量一般都是采用光学原理进行测量的。但是，有很多材料，由于反光或者透光的影响，给非接触性的测量带来了困难，所以，还需要进行机械测量。

软包材料在受压时会出现不可忽视的压缩形变，因此，测试时一定要严格遵守标准对试样接触面积及压强的要求。不同的标准对于测试面积、所施压强有不同的要求.同种原理的机械式测厚仪检测同一试样产生的不同测试结果，其主要原因就是测量过程中对试样所施加的压强不同所造成的，因为设备的开发是遵照标准进行的。常用的简易测厚仪就是螺旋测微器，但是它所施加在试样上的压力不易量化，而且测薄膜和测纸张时施力都一样，不符合相关测试标准的要求。

常见测量薄膜厚度的测量头有两种：平面型测量头和球面型测量头。前者可以使试样的被测区域均匀受力，而后者易于实现上测量点与下测量面的平行，但测量面积和压强无法控制和量化。

实用新型内容

鉴于现有技术中存在的不足和缺陷，本实用新型的目的在于提供一种新型薄膜测厚仪测头，本实用新型可同时实现测量时的压强调节及平行度调节，实现准确测量。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：一种新型薄膜测厚仪测头，包括壳体、驱动机构、测量机构、支架，所述驱动机构设置于所述壳体内部，所述驱动机构包括步进电机、凸轮机构，所述测量机构包括下测砧、电感测头，所述步进电机连接所述凸轮机构，所述凸轮机构包括凸轮、移动支架、滑竿，所述凸轮通过偏心轴设置于所述支架上，所述滑竿数量为两根，所述滑竿竖直设置，所述滑竿上方设有滑竿固定板连接，所述滑竿通过滑竿套与所述移动支架滑动连接，所述移动支架底部通过滑筒法兰固定连接有滑筒，所述滑筒贯穿所述壳体底部，所述滑筒下方设有电感测头，所述下测砧设置于所述电感测头下方。实现电感测头上下移动测量。

优选的，所述壳体底部设有底座，所述下测砧设置于所述底座上，所述底座底部设有支撑足，所述支撑足包括固定足与可调足，所述可调足设置于所述下测砧端，所述可调足包括调节地脚、锁紧螺母。通过调节可调足实现下测砧与电感测头之间平行度的调节。

优选的，所述滑筒与所述壳体接触处设有滑套，所述滑套与所述壳体固定连接。避免滑筒在竖直方向移动时位置偏移。

优选的，所述滑套底部设有电感测头固定套，所述电感测头固定套设置于所述电感测头外部，所述电感测头外部还设有电感测头保护套。实现对电感测头的固定与保护。

优选的，所述电感测头固定套与所述电感测头之间设有电感测头调节座，所述电感测头调节座数量为三个。通过电感测头调节座调节电感测头压强的调节。

优选地，所述壳体一侧设有显示屏，所述显示屏与所述控制器电连接。

与现有技术相比，本实用新型具有的有益效果为：

1.本实用新型可调节测量时对薄膜的压强，从而达到准确的测量结果。