[实用新型]一种无损测量导电薄膜方块电阻的装置有效
申请号: | 201822149489.5 | 申请日: | 2018-12-19 |
公开(公告)号: | CN209525390U | 公开(公告)日: | 2019-10-22 |
发明(设计)人: | 秦平力;刘子初;陈刘钰;贺文静;余雪里 | 申请(专利权)人: | 武汉工程大学 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人: | 唐万荣;孙方旭 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 圆环状 同轴电缆接头 方块电阻 本实用新型 导电薄膜 无损测量 弹性导电橡胶 导电薄膜材料 铝合金材料 车削加工 高灵敏度 工件底面 轴对称性 装置实现 探头轴 螺纹 底面 无损 粘贴 测量 加工 保证 | ||
本实用新型设计了一种无损测量导电薄膜方块电阻的装置,选用同轴电缆接头,将铝合金材料加工成一个圆环状工件,圆环状工件内径大于同轴电缆接头的外径,并且在圆环状工件外侧车削加工出螺纹,将其固定进同轴电缆接头内部,使他们具有轴对称性,并保证圆环状工件底面与探头轴的底面在同一平面内。在圆环状工件和同轴电缆接头的截面粘贴等面积弹性导电橡胶。本实用新型装置实现了导电薄膜材料方块电阻的快速、无损、高灵敏度便捷测量。
技术领域
本实用新型属于电阻测量技术领域,尤其涉及一种无损测量导电薄膜方块电阻的装置。
背景技术
导电薄膜的方块电阻又称膜电阻、面电阻,简称方阻,是指薄膜状导体任意正方形状对边之间的电阻,在该薄膜厚度不变的情况下它为一定值,不随正方形的面积大小而变化。方电阻的值可以用于表征半导体导电薄膜的导电性能,是研究半导体物理器件不可缺少的量。目前常见的测试方法有霍尔效应法、四探针法及人工铟丝直接测量法。霍尔效应法所用的设备价格昂贵、要求较高、测试成本较大,制作测试电极损坏样品,是一种有损测量方法;四探针法的测量设备虽然普遍,购买成本也较高;虽然人工铟线直接测法比较直观,但在制备测试电极时,需要稀有金属铟,成本较高,并且损坏导电薄膜。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是,提供一种无损测量导电薄膜方块电阻的装置,实现了导电薄膜材料方块电阻的快速、无损、高灵敏度便捷测量。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:提供一种无损测量导电薄膜方块电阻的装置,包括探头,探头包括探头内轴、探头外壳、圆环状工件和弹性导电橡胶,圆环状工件固定在探头内轴的外部,在圆环状工件和探头内轴的截面粘贴等面积弹性导电橡胶。
按上述技术方案,探头内轴为同轴电缆接头。
按上述技术方案,通过在圆环状工件外侧车削加工出螺纹,将其固定在探头外壳的内部,圆环状工件与探头具有轴对称性,并保证圆环状工件底面与探头内轴的底面在同一平面内。
按上述技术方案,圆环状工件材质为铝合金或黄铜或不锈钢。
按上述技术方案,弹性导电橡胶的体积电阻小于6Ω/cm3。
按上述技术方案,还包括绝缘套筒,绝缘套筒设置在圆环状工件上方,并设在探头内轴和探头外壳之间。
按上述技术方案,探头的两极分别与万用表欧姆挡两极相连。
本实用新型产生的有益效果是:实现了导电薄膜材料方块电阻的快速、无损、高灵敏度便捷测量。本实用新型装置可以小型化,便于携带,可用于测量人员对薄膜材料的分析计算,也可以经改进后用于工业流水线的自动检测,符合社会向智能化发展的趋势,具有广泛的应用前景。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明,附图中:
图1是本实用新型实施例中方块导电薄膜电极示意图;
图2是本实用新型实施例中探头内部剖面结构示意图;
图3是本实用新型实施例定标结果图;
其中,1.绝缘套筒,2.圆环状工件,3.弹性导电橡胶,4.探头内轴,5.探头外壳。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
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