[实用新型]一种上下交替结构功能测试平台

说明书

本实用新型旨在提供一种提高测试效率、能有效降低劳动强度，并且其结构严谨、测试精准的上下交替结构功能测试平台。本实用新型包括基座、设于所述基座顶部的压块模组、通过第一滑轨与所述基座滑动连接的上载板模组、通过第二滑轨与所述基座滑动连接的下载板模组及设于所述压块模组下方的针块模组，压块模组、所述上载板模组、所述下载板模组及所述针块模组相互配合设置，所述基座上设有分别设于所述基座两侧并且均与所述压块模组传动连接的下压气缸、设于所述基座底部的一端并且与所述上载板模组传动连接的第一气缸及设于所述基座底部的另一端并且与所述下载板模组传动连接的第二气缸。本实用新型应用于PCB电路板测试设备的技术领域。

技术领域

本实用新型涉及电路板测试设备，特别涉及一种上下交替结构功能测试平台。

背景技术

探针测试方法广泛应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。能够高效便捷地实现对产品导电性，电容、电感、电阻等性能参数的测试，有效提高了产品的可靠性，缩短了产品的开发周期，有助于产品质量的不断提升。探针本身自带弹簧，需与产品之间保持一定的接触压力，才能够保证测试的稳定性，而产品自重较小，如无其它外力作用，产品将被探针抵离导针板，其间的接触压力也将无法满足测试需求，而目前芯片测试设备普遍采用单载板进出的测试结构，即只有一个进出的载板用以放置电路板，其结构严谨性低，需等待测试完成后，退出到指定区域才能进行电路板的更换，测试效率较低。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种提高测试效率、能有效降低劳动强度，并且其结构严谨、测试精准的上下交替结构功能测试平台。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括基座、设于所述基座顶部的压块模组、通过第一滑轨与所述基座滑动连接的上载板模组、通过第二滑轨与所述基座滑动连接的下载板模组及设于所述压块模组下方的针块模组，压块模组、所述上载板模组、所述下载板模组及所述针块模组相互配合设置，所述基座上设有分别设于所述基座两侧并且均与所述压块模组传动连接的下压气缸、设于所述基座底部的一端并且与所述上载板模组传动连接的第一气缸及设于所述基座底部的另一端并且与所述下载板模组传动连接的第二气缸。

由上述方案可见，所述第一气缸为所述上载板模组滑动提供动力，所述上载板模组可通过所述第一滑轨滑动所述针块模组的上方，所述第二气缸为所述下载板模组滑动提供动力，所述下载板模组可通过所述第二滑轨滑动所述针块模组的上方，并且所述上载板模组及所述下载板模组在滑动的过程中互不接触； 所述下压气缸为所述压块模组下压运动提供动力，使得所述压块模组驱动所述上载板模组或所述下载板模组下压，进而实现所述上载板模组或所述下载板模组与所述针块模组贴合；所以，本实用新型通过将两载板模组布置为上下结构，并且两载板模组搬运产品的过程中互不干涉，即使得所述上载板模组及所述下载板模组能往返进出于测试工位处，并依次完成载板上电路板的功能测试，其测试效率高，有效降低劳动强度；本实用新型通过所述基座上的结构布置，充分利用现有空间，使结构更加紧凑，提高了整体的测试效率。

一个优选方案是，所述压块模组包括与所述下压气缸传动连接的压台及设于所述压台四角的立柱，所述立柱与所述基座固定连接，所述立柱上设有限位块。

由上述方案可见，所述下压气缸为所述压台提供下压动力；设置有所述压台，为所述上载板模组及所述下载板模组提供下移的动力；设于所述压台四角的所述立柱对所述压台提供导向的作用；所述限位块用于限制所述压台的位移。

一个优选方案是，所述上载板模组包括上载板及分别设于所述上载板两端的等高台，所述等高台通过若干个轴承和若干个第一弹簧与所述上载板连接，所述等高台的底部设有与所述第一气缸传动连接的第一连接块。

由上述方案可见，所述轴承的设置，对所述上载板起到导向的作用；所述上载板在自由状态下被所述第一弹簧顶起，完成测试后，所述上载板由所述第一弹簧提供复位的动力；所述第一气缸通过所述第一连接块带动所述上载板模组完成进出的滑动过程。